[发明专利]雷达芯片的测试系统

权利要求书

1.一种雷达芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：

信号源，用于为待测雷达芯片提供射频信号；

频谱仪，用于测量待测雷达芯片的发射信号；

测试板，用于支持待测雷达芯片工作，并将待测雷达芯片的射频输出端口和射频输入端口引出；

射频接口模块，包括用于将所述测试板上待测雷达芯片的射频输入端口连接至所述信号源的第一功分器、以及将所述测试板上待测雷达芯片的射频输出端口连接至所述频谱仪的第二功分器；

ATE机台，用于获取所述频谱仪和/或待测雷达芯片的测量数据，以判断待测雷达芯片的发射性能和接收性能是否达到设定目标，所述待测雷达芯片的测量数据包括接收增益、接收灵敏度以及噪声系数；

其中所述ATE机台用于比较所述频谱仪的测量数据与第一门限值以判断待测雷达芯片的发射性能是否达到设定目标；以及所述ATE机台用于比较待测雷达芯片的测试数据与第二门限值以判断待测雷达芯片的接收性能是否达到设定目标。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试板用于支持至少两颗待测雷达芯片工作。

3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述信号源通过同轴射频线缆连接至所述第一功分器的输入端，所述第一功分器用于将所述信号源产生的信号等分为多路信号；

所述频谱仪通过同轴射频线缆连接至所述第二功分器的输出端，所述第二功分器用于将待测雷达芯片输出的多路信号合并为一路信号。

4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述射频接口模块还包括与所述第一功分器以及所述第二功分器连接的衰减器。

5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述第一功分器的输出端通过同轴射频线缆与所述衰减器的输入端连接，所述衰减器的输出端与待测雷达芯片的射频输入端口连接；所述第二功分器的输入端通过同轴射频线缆与所述衰减器的输出端口连接，所述衰减器的输入端与待测雷达芯片的射频输出端口连接。

6.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述ATE机台通过网线与交换机连接，所述交换机通过网线分别与所述信号源以及所述频谱仪连接。

7.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述ATE机台与所述测试板通过测试线缆连接，所述ATE机台还用于向待测雷达芯片提供电源，数字接口以及逻辑控制功能。

8.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述频谱仪的测量数据包括所述发射信号的信号强度、相位噪声、杂散以及谐波。