[发明专利]激光频率检测装置和方法

权利要求书

1.一种激光频率检测装置，其特征在于，包括：至少两个干涉仪和解调器，所述至少两个干涉仪包括第一干涉仪和第二干涉仪，所述第一干涉仪外用温度系数为第一系数的材料封装，所述第二干涉仪外用温度系数为第二系数的材料封装；

所述至少两个干涉仪用于改变待测激光源发出的光的相位，所述第一干涉仪所引起的第一待测光的相位变化值为第一相位变化值，所述第二干涉仪所引起的第二待测光的相位变化值为第二相位变化值，所述第一待测光为所述待测激光源发出的一束光，所述第二待测光为所述待测激光源发出的另一束光或从所述第一干涉仪输出的光；

所述解调器用于根据所述第一系数、第二系数、所述第一相位变化值和第二相位变化值确定所述待测激光源发出的光的频率。

2.如权利要求1所述的激光频率检测装置，其特征在于，所述激光频率检测装置还包括第一分光器；

所述第一分光器用于将所述待测激光源发出的一束光分束得到所述第一待测光和所述第二待测光；

所述第一干涉仪用于改变所述第一待测光的相位；

所述第二干涉仪用于改变所述第二待测光的相位。

3.如权利要求1所述的激光频率检测装置，其特征在于，所述激光频率检测装置还包括环形器和调制器；

所述调制器用于对所述待测激光源发出的一束光进行脉冲调制并移频得到所述第一待测光；

所述环形器用于接收所述第一待测光并输出给所述第一干涉仪；

所述第一干涉仪用于改变所述第一待测光的相位得到所述第二待测光；

所述第二干涉仪用于接收所述第二待测光并改变所述第二待测光的相位得到第三待测光；

所述环形器还用于接收所述第三待测光并输出至所述解调器。

4.如权利要求1至3所述的激光频率检测装置，其特征在于，所述第一相位变化值包括所述第一干涉仪中所述第一待测光的频率引起的第一子相位变化值和所述第一干涉仪所处的环境温度引起的第二子相位变化值，所述第二子相位变化值与所述第一系数有关；

所述第二相位变化值包括所述第二干涉仪中所述第二待测光的频率引起的第三子相位变化值和所述第二干涉仪所处的环境温度引起的第四子相位变化值，所述第四子相位变化值与所述第二系数有关。

5.如权利要求4所述的激光频率检测装置，其特征在于，所述解调器用于根据所述第一系数、第二系数、所述第一子相位变化值、第二子相位变化值、所述第三子相位变化值、第四子相位变化值、所述第一相位变化值、第二相位变化值以及所述第一干涉仪的腔体长度和所述第二干涉仪的腔体长度确定所述待测激光源发出的光的频率，所述腔体长度为干涉仪内用于传输光信号的两段波导的长度的差值。

6.如权利要求2、4或5所述的激光频率检测装置，其特征在于，所述激光频率检测装置还包括反射部件，所述反射部件用于将经过所述第一干涉仪的第一待测光和经过所述第二干涉仪的第二待测光反射到所述解调器。

7.如权利要求1至6所述的任一种激光频率检测装置，其特征在于，所述第一干涉仪或第二干涉仪是如下干涉仪中的任意一种：法布里-珀罗(FP)干涉仪、马赫曾德(Mach-Zehnder)干涉仪、迈克尔逊(Michelson)干涉仪或塞格纳克(Sagnac)干涉仪。

8.如权利要求3所述的任一种激光频率检测装置，其特征在于，所述调制器是声光调制器或电光调制器。

9.一种激光频率检测方法，其特征在于，包括：

将待测光分束得到第一待测光和第二待测光；

第一干涉仪接收所述第一待测光，所述第一干涉仪外用温度系数为第一系数的材料封装，所述第一干涉仪所引起的所述第一待测光的相位变化值为第一相位变化值；

第二干涉仪接收所述第二待测光，所述第二干涉仪外用温度系数为第二系数的材料封装，所述第二干涉仪所引起的所述第二待测光的相位变化值为第二相位变化值；

依据所述第一系数、所述第二系数、所述第一相位变化值和所述第二相位变化值确定所述待测光的频率。