[发明专利]键盘按键测试触发装置、方法、装置、系统、设备及介质

说明书

本发明提供一种键盘按键测试触发装置、方法、装置、系统、设备及介质。所述方法包括：获取触发装置在外界触发力作用下按压所述待测键盘后，待测键盘发送的键盘触发信号；根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。本发明提供的键盘按键测试方法，通过设计一种键盘按压测试的触发装置，保证了力度均衡的同时按压键盘上的按键，通过按键产生的触发信号确定按键是否异常，能够快速准确地检测键盘的灵敏性。

技术领域

本发明涉及智能检测技术领域，具体涉及一种键盘按键测试触发装置、方法、装置、系统、设备及介质。

背景技术

笔记本翻新时，二手机键盘容易受损，造成键盘按键失灵，有部分按键过于灵敏。而造成这个的原因是键盘内软电路短路，接触异常。只要轻轻触碰，就会触发，过于灵敏的按键，会造成输出异常，使用体验较差。

因此，如何检测键盘按键，成为亟待解决的重要课题。

发明内容

为了快速准确地检测键盘按键是否异常，本发明提供了一种键盘按键测试触发装置、方法、装置、系统、设备及介质。

第一方面，本发明提供一种键盘按键测试的触发装置，包括：

与待测键盘的布局相匹配的亚克力板；

粘贴在所述亚克力板上的硅胶层，与所述待测键盘上的按键贴合；

所述亚克力板用于在测试所述待测键盘时，利用外界触发力按压所述待测键盘。

如上述触发装置，可选地，所述亚克力板具体用于：

在所述外界触发力作用在所述亚克力板上时，产生均匀的按压力同时按压所述待测键盘上的多个按键。

第二方面，本发明提供一种键盘按键测试方法，应用于键盘按键测试系统中，所述键盘按键测试系统包括如上所述的键盘按键测试的触发装置，所述方法包括：

获取所述触发装置在外界触发力作用下按压所述待测键盘后，所述待测键盘发送的键盘触发信号；

根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

如上述方法，可选地，所述键盘触发信号为异常触发信号；

相应地，所述根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果，包括：

根据所述异常触发信号，确定所述待测键盘的异常类别。

如上述方法，可选地，所述根据所述异常触发信号，确定所述待测键盘的异常类别，包括：

根据所述异常触发信号对应的触发时间与预设正常触发信号的触发时间之间的关系，判断所述待测键盘的灵敏度异常类型。

如上述方法，可选地，还包括：

获取所述异常触发信号对应的按键编码，确定所述待测键盘的异常按键并输出异常按键编码。

第三方面，本发明提供一种键盘按键测试装置，应用于键盘按键测试系统中，所述键盘按键测试系统包括如上所述的键盘按键测试的触发装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述触发装置在外界触发力作用下按压所述待测键盘后，所述待测键盘发送的键盘触发信号；

处理模块，用于根据所述键盘触发信号，确定所述待测键盘的检测结果。

如上述装置，可选地，所述键盘触发信号为异常触发信号；

相应地，所述处理模块具体用于：

根据所述异常触发信号，确定所述待测键盘的异常类别。

如上述装置，可选地，所述处理模块具体用于：