[发明专利]三维体声波谐振器及其制造方法有效
申请号: | 202010314203.3 | 申请日: | 2020-04-20 |
公开(公告)号: | CN111446939B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 吴明;唐兆云;杨清华;赖志国;王家友 | 申请(专利权)人: | 苏州汉天下电子有限公司 |
主分类号: | H03H3/02 | 分类号: | H03H3/02;H03H9/205;H03H9/02 |
代理公司: | 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 | 代理人: | 陈红;陈轶兰 |
地址: | 215123 江苏省苏州市苏州工业园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 声波 谐振器 及其 制造 方法 | ||
1.一种三维(3D)体声波(BAW)谐振器,包括:
压电膜阵列,包括在衬底与盖帽层之间垂直且水平分布的多个压电膜,垂直方向上相邻压电膜之间具有多个第一空腔,水平的第一方向上相邻压电膜之间具有共用的第二空腔,水平的第二方向上相邻压电膜之间具有共用的第三空腔,多个第一空腔沿第二方向的宽度从上至下增大,任意两个相邻第一空腔仅有一侧对齐;
多个电极层,至少覆盖每个第一空腔的顶面和底面;
多个电极互连层,沿第三空腔侧面依次连接所述多个电极层;第三空腔包括沿第二方向宽度不等的多个子部分,任意两个相邻子部分深度不同;
多个焊垫,至少部分地插入第三空腔中以电连接各个电极互连层。
2.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,第二空腔沿第一方向的宽度相等。
3.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,焊垫沿第二方向的宽度大于等于第三空腔宽度的1.5倍。
4.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,每个第一空腔与共用的第三空腔之间具有电极层、第一隔离层和电极互连层。
5.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,每个第一空腔与共用的第二空腔之间具有第二隔离层和第一密闭层。
6.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,衬底和/或盖帽层材料选自体Si、绝缘体上硅(SOI)、体Ge、GeOI、GaN、GaAs、SiC、InP、GaP。
7.根据权利要求6的3D BAW谐振器,其中,衬底与盖帽层材料相同。
8.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,电极层和/或电极互连层材料为选自Mo、W、Ru、Al、Cu、Ti、Ta、In、Zn、Zr、Fe、Mg的金属单质、这些金属的合金、这些金属的导电氧化物或导电氮化物、以及其任意组合。
9.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,压电膜的材料为ZnO、AlN、BST、BT、PZT、PBLN、PT。
10.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,第一隔离层的材料为SiOx、SiOC、SiOC、SiOF、SiFC、BSG、PSG、PBSG或其任意组合。
11.根据权利要求5的3D BAW谐振器,其中,第二隔离层的材料为SiOx、SiOC、SiOC、SiOF、SiFC、BSG、PSG、PBSG或其任意组合。
12.根据权利要求11的3D BAW谐振器,其中,第一隔离层和第二隔离层材料相同。
13.根据权利要求5的3D BAW谐振器,其中,第一密闭层材料为氧化钛、氧化钽、氧化铪、氧化钨。
14.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,焊垫的材料为Al、Mg、In及其组合。
15.根据权利要求1的3D BAW谐振器,其中,钝化层覆盖位于盖帽层顶部的硬掩模层并填充在多个焊垫之间。
16.根据权利要求15的3D BAW谐振器,其中,钝化层中具有再布线层以连接驱动电路,或者焊垫电连接至其上方的导电凸块。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州汉天下电子有限公司,未经苏州汉天下电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010314203.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种防窃电方法
- 下一篇:一种芯片、芯片温度检测模块及方法