[发明专利]一种三维光电互联基板的制备方法有效
申请号: | 202010316334.5 | 申请日: | 2020-04-21 |
公开(公告)号: | CN111538119B | 公开(公告)日: | 2022-03-08 |
发明(设计)人: | 尚金堂;汪子及 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G02B6/136 | 分类号: | G02B6/136;G02B6/138;H01L21/48 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 姜慧勤 |
地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 三维 光电 互联基板 制备 方法 | ||
1.一种三维光电互联基板的制备方法,其特征在于包括如下步骤:
步骤1,在玻璃基板上通过激光刻蚀,形成电互联通孔,并在所述电互联通孔内嵌入导电部分;
步骤2,在玻璃基板上沉积氮化硅器件层;
步骤3,通过光刻、刻蚀得到氮化硅波导芯层,使氮化硅波导芯层不覆盖电互联通孔;
步骤4,在玻璃基板上进行激光刻蚀,得到光互联通孔,且光互联通孔垂直于玻璃基板;
步骤5,在步骤4得到的器件两个表面沉积聚合物,从而在器件两个表面形成聚合物芯层器件层;
步骤6,通过光刻、显影工艺,得到聚合物波导芯层,所述聚合物波导芯层的一端包含氮化硅波导芯层的末端,另一端呈45度斜边,覆盖光互联通孔,且端部位于与之同面的光互联通孔的边界;
步骤7,继续在步骤6得到的器件表面旋涂,形成聚合物上包层;
步骤8,通过光刻、显影工艺,去除覆盖在电互联通孔上方的上包层。
2.如权利要求1所述的三维光电互联基板的制备方法,其特征在于:所述步骤1中,玻璃基板采用硼硅酸盐玻璃。
3.如权利要求1所述的三维光电互联基板的制备方法,其特征在于:所述步骤1中,玻璃基板的厚度为50μm-1mm。
4.如权利要求1所述的三维光电互联基板的制备方法,其特征在于:所述步骤1中,嵌入的导电部分材质为因瓦合金、超因瓦合金或金属玻璃。
5.如权利要求1所述的三维光电互联基板的制备方法,其特征在于:所述步骤2中,在玻璃基板的一个表面或两个表面沉积氮化硅器件层。
6.如权利要求1所述的三维光电互联基板的制备方法,其特征在于:所述步骤7中,聚合物上包层的厚度大于聚合物波导芯层的厚度。
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