[发明专利]一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法在审

专利信息
申请号: 202010318368.8 申请日: 2020-04-21
公开(公告)号: CN111510231A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 王果宏;付原;张军;赵迎超 申请(专利权)人: 西安电子工程研究所
主分类号: H04B17/29 分类号: H04B17/29;H04B17/309;H04B17/345
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 刘新琼
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 有源 阵列 天线 接收 增益 噪声 温度 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法,其特征在于步骤如下:

步骤1:首先用射频电缆1连接信号源和频谱仪,测试得到信号源输出射频信号P1,然后用射频电缆1和射频电缆2连接信号源和频谱仪,测试得到信号源输出射频信号P2,则射频电缆2的损耗为L=P1-P2;

步骤2:远场测试有源阵列天线接收到的信号和噪声:首先打开发射塔上的信号源射频开关,得到有源阵列天线输出信号So,然后关闭信号源射频开关,得到有源阵列天线输出噪声No

步骤3:在有源阵列天线同一位置放置增益为Gh的接收喇叭,接收喇叭后面接频谱仪,使用射频电缆2连接标准增益喇叭和频谱仪,打开信号源射频开关,得到标准增益喇叭接收到的射频信号Ph

步骤4:通过下式计算有源阵列天线接收增益噪声温度比:

其中,K为波尔兹曼常数,B为接收机带宽。

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