[发明专利]一种低氧恒湿储藏装置及其储藏方法有效
申请号: | 202010318474.6 | 申请日: | 2020-04-21 |
公开(公告)号: | CN111419021B | 公开(公告)日: | 2023-05-16 |
发明(设计)人: | 请求不公布姓名 | 申请(专利权)人: | 天津森罗科技股份有限公司 |
主分类号: | A47B81/00 | 分类号: | A47B81/00;A47B63/00;A47B97/00;B01D53/26 |
代理公司: | 北京威禾知识产权代理有限公司 11838 | 代理人: | 沈超 |
地址: | 300409 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低氧 储藏 装置 及其 方法 | ||
本发明涉及一种低氧恒湿装置,包括:气密围护,其中所述气密围护的体积小于20msupgt;3/supgt;;除氧剂;其经配置以调整和维持所述气密围护内的氧含量;控湿剂和/或干燥剂,包括:调湿剂和/或干燥剂,其经配置以调整和维持所述气密围护内湿度;以及其中,所述控湿剂和/或干燥剂和除氧剂的量至少部分基于所述气密围护的体积和密封性。本申请还涉及一种低氧恒湿装置调控方法。本发明的低氧恒湿储藏装置及储藏方法,不包括主动降氧控湿装置,无需任何换气设备就能够将储藏柜内的气密空间中的氧浓度和湿度保持恒定。
技术领域
本发明涉及一种高密封环境气调保护技术(Controlled Atmosphere technologyof High Sealed environment,CAHS),特别地涉及一种低氧恒湿储藏装置及其储藏方法。
背景技术
文物、古书籍等藏品的储藏对环境的氧含量和湿度具有较高的要求。目前,由于储藏环境得不到有效的控制,一些藏品已经出现了不同程度的发霉、老化等现象。现有技术中的一致观点认为,只有使用主动式低氧恒湿气调技术才能使储藏空间内的气体长期处在低氧和恒湿状态,有效减少藏品的发霉和氧化,实现藏品的长期储藏。然而,主动控湿相对较高的成本造成了推广应用的困难。因此,如何为大量的藏品提供一个更为经济和便捷的储藏环境是本领域中一个需要解决的问题。
发明内容
针对现有技术中存在的技术问题,本发明提出了一种低氧恒湿储藏装置,包括:气密围护,其中所述气密围护的体积小于20m3;除氧剂;其经配置以调整和维持所述气密围护内的氧含量;以及控湿剂和/或干燥剂,其经配置以调整和维持所述气密围护内湿度;其中,所述除氧剂和控湿剂和/或干燥剂的用量至少部分基于所述气密围护的体积和密封性。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述气密围护的体积为小于10m3,小于5m3,或者小于3m3。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述气密围护的换气率小于0.05d-1,或者小于0.02d-1。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述气密围护的氧含量的范围为小于2%;小于1%;小于0.5%;或者小于等于0.1%,并且将气密围护内的氧含量维持在所述的氧含量范围10天以上、20天以上、50天以上、100天以上或200天以上。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述除氧剂为铁系除氧剂或有机系类型除氧剂。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,所述除氧剂的用量根据以下公式计算:
M1=A1·A2·V·(C1-C2)/Q+V·N·D·21%/Q
其中,M1为除氧剂用量;A1为气密围护结构影响系数;A2为储藏物品系数;V为气调空间的容积;C1为气调空间内起始氧含量;C2为气调空间内需求氧含量;Q为除氧剂吸氧量;N为气密围护结构的换气率,D为需要低氧储藏的时间。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述控湿剂和/或干燥剂将所述气密围护内相对湿度控制在目标相对湿度;其中,在10天以上、20天以上、50天以上、100天以上或200天以上的时间内所述气密围护内的相对湿度与所述目标相对湿度之间的差异小于5%,或者小于3%。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述目标湿度的范围为20~25℃条件下相对湿度30%-80%。
如上所述的低氧恒湿储藏装置,其中所述控湿剂和/或干燥剂用量满足如下公式:
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