[发明专利]一种直插元件检测方法及系统

说明书

本发明涉及一种直插元件检测方法及系统。所述直插元件检测方法，包括：获取待测元件的待测尺寸、待测灰度值和待测RGB三通道颜色值；判断与待测元件对应的颜色阈值组中是否存在与待测RGB三通道颜色值相等的RGB三通道颜色值；判断与待测元件对应的尺寸阈值组中是否存在与待测尺寸相等的尺寸；判断待测PCB板图像上各待测元件的待测灰度值是否与对应的灰度值阈值相等，当灰度值错误数量大于设定数量阈值时，则输出灰度值错误数量、设定数量阈值和待测PCB板图像上与对应的灰度值阈值不相等的各待测元件的位置。本发明可以提高对直插元件是否存在元件错误、元件漏插及IC焊锡连焊的检测结果的检测精度。

技术领域

本发明涉及检测领域，特别是涉及一种直插元件检测方法及系统。

背景技术

随着电子元器件的日益微型化以及PCB板的高度集成化，人工检测的传统方法已经完全不能够满足人们对现代产品质量近乎苛刻的高合格率要求。人工检测是分期分批进行的，为期一天或几天不等，主要由产品的批量大小来决定，导致检测效率较低。而且，人工检测方法对人的依赖程度较大，检测准确度与检测人员的工作习惯、经验和疲劳程度等因素有关，误检和漏检的情况时有发生。因此，必须用一种有效的检测手段来代替传统的人工检测方法，才能达到现代生产过程中既保证质量又提高效率的目的。

近年来光学测试法越来越受到重视。自动光学检查系统(Automatic OpticalInspection System，AOI)的核心是一套CCD摄像系统、交流伺服控制工作台及图像处理系统。在进行检测时，首先将需要检测的印刷电路板置于AOI系统的工作台上，经过定位，调出需要检测产品的检测程序，工作台将线路板送到镜头下面，镜头捕捉到线路板的图像后，处理器将会在工作台移至下一个位置时对捕捉到的图像分析处理，通过对图像进行连续处理，获得较高的检测速度，但是此种方法检测的精度较低。

发明内容

本发明的目的是提供一种直插元件检测方法及系统，本发明可以提高对直插元件是否存在元件错误、元件漏插及IC焊锡连焊的检测结果的检测精度。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种直插元件检测方法，包括：

获取待测PCB板图像上的每个待测元件的待测尺寸、待测灰度值和待测RGB三通道颜色值；

判断与所述待测元件对应的颜色阈值组中是否存在与所述待测RGB三通道颜色值相等的RGB三通道颜色值，得到第一判断结果；所述对应的颜色阈值组是由对对应模板元件进行多次颜色训练学习得到的多组RGB三通道颜色值构成的；所述对应模板元件为模板PCB板图像上与所述待测元件的位置相同的模板元件；

若所述第一判断结果为否，则确定所述待测元件存在颜色错误，并输出存在颜色错误的待测元件的位置、RGB三通道颜色值和编号；

判断与所述待测元件对应的尺寸阈值组中是否存在与所述待测尺寸相等的尺寸，得到第二判断结果；所述对应的尺寸阈值组是由对所述对应模板元件进行多次尺寸训练学习得到的多组尺寸构成的；

若所述第二判断结果为否，则确定所述待测元件存在尺寸错误，并输出存在尺寸错误的待测元件的位置、尺寸和元件编号；

判断所述待测PCB板图像上各所述待测元件的待测灰度值是否与对应的灰度值阈值相等，得到第三判断结果；所述对应的灰度值阈值为所述对应模板元件的灰度值；

由所述第三判断结果确定灰度值错误数量；所述灰度值错误数量为所述待测PCB板图像上与对应的灰度值阈值不相等的待测元件的个数；

当所述灰度值错误数量大于设定数量阈值时，则输出所述灰度值错误数量、所述设定数量阈值和所述待测PCB板图像上与对应的灰度值阈值不相等的各待测元件的位置。

可选的，所述判断所述待测PCB板图像上各所述待测元件的待测灰度值是否与对应的灰度值阈值相等，得到第三判断结果，具体包括：