[发明专利]一种基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件及其制备方法有效
申请号: | 202010321081.0 | 申请日: | 2020-04-22 |
公开(公告)号: | CN111479458B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 闫长春;施维捷;曹博文;郭慧 | 申请(专利权)人: | 江苏师范大学 |
主分类号: | H05K9/00 | 分类号: | H05K9/00 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 周敏 |
地址: | 221116 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 层状 倾斜 ito 纳米 阵列 可见光 透过 红外 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件,其特征在于,所述吸波器件由自下而上依次叠加排列的三层倾斜的ITO纳米棒阵列构成,三层ITO纳米棒的倾斜角自下而上分别为14.6°、28.2°、45.8°,三层ITO纳米棒的半径自下而上依次减小,其中每层ITO纳米棒阵列厚度为200nm,每层ITO纳米棒阵列均呈六方晶格排列。
2.一种权利要求1所述的基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:将洁净干燥的透明衬底置于电子束蒸发镀膜系统的样品台,将初始原料ITO置于电子束蒸发镀膜系统的蒸发源,设置电子束蒸发速率,利用倾斜角沉积方法,在衬底上依次进行40°、60°和80°三个不同沉积角度的沉积,每层沉积厚度为200nm;
步骤二:沉积结束后对样品进行退火处理,得到所述层状倾斜ITO纳米棒阵列结构。
3.根据权利要求2所述的基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件的制备方法,其特征在于,步骤一中,所述初始原料为中红外等离激元共振纳米材料ITO,由90wt%In2O3和10wt%SnO2组成。
4.根据权利要求2所述的基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件的制备方法,其特征在于,步骤一中,所述透明衬底选用玻璃。
5.根据权利要求2所述的基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件的制备方法,其特征在于,步骤一中,沉积角为40°时电子束蒸发速率为6.67nm/min,沉积角为60°时电子束蒸发速率为5.92nm/min,沉积角为80°时电子束蒸发速率为5.17nm/min。
6.根据权利要求2所述的基于层状倾斜ITO纳米棒阵列的可见光高透过的中红外吸波器件的制备方法,其特征在于,步骤二中,沉积结束后样品在550℃、1atm的环境下退火30min。
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