[发明专利]自动上下料机构及Mini LED屏幕芯片测试装置

说明书

本发明属于Mini LED屏幕芯片测试技术领域，公开了一种自动上下料机构及Mini LED屏幕芯片测试装置。该自动上下料机构包括：框架；第一抽屉盒，其沿第一方向滑动设置于框架上，第一抽屉盒用于承载待测试工件；第二抽屉盒，其沿第一方向滑动设置于框架上并与第一抽屉盒平行设置，第二抽屉盒用于承载完成测试的成品工件，成品工件的输送方向和待测试工件的输送方向相反；升降驱动源，其输出端连接于框架，升降驱动源能够驱动框架沿第二方向移动，其中第一方向和第二方向相互垂直设置。该自动上下料机构在升降驱动源、框架、第一抽屉盒和第二抽屉盒的共同作用下，减轻了劳动负担，有效地提高了生产效率。

技术领域

本发明涉及Mini LED屏幕芯片测试技术领域，尤其涉及自动上下料机构及MiniLED屏幕芯片测试装置。

背景技术

随着大众追求超清显示，显示技术需要更高对比度，被称为次时代显示技术的Mini LED成为众厂商积极布局的领域，采用Mini LED背光技术的LCD(液晶)显示屏，在亮度、对比度、色彩还原和节能远远优于当今的LCD显示器，甚至可以与AMO LED竞争，同时还能控制生产成本。由于用于面板背光的LED数量大大增加，新技术可以在很大程度上改善LCD屏幕的HDR性能。

Mini LED屏幕芯片属于新型显示屏幕产品的精密组件，随着电子产品制造行业的蓬勃发展，生产单位针对Mini LED屏幕芯片品质方面的考虑，对Mini LED屏幕芯片的精度要求越来越高，因此需要对Mini LED屏幕芯片进行测试。

传统的测试设备依靠操作人员人工搬运Mini LED屏幕芯片，以实现Mini LED屏幕芯片上下料，操作人员劳动强度比较大，上下料速度慢,影响作业效率。同时，在Mini LED屏幕芯片进行测试时，需要人工手动操作探针接触到Mini LED屏幕芯片的触点，存在探针接触不到Mini LED屏幕芯片触点问题，对Mini LED屏幕芯片的测试点位不够准确，稳定性差，且受到人为不确定因素影响，测试精度较低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动上下料机构及Mini LED屏幕芯片测试装置，减少劳动负担，将测试速度相比较以往技术提升5-6倍，提高生产效率。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种自动上下料机构，包括：

框架；

第一抽屉盒，其沿第一方向滑动设置于所述框架上，所述第一抽屉盒用于承载待测试工件；

第二抽屉盒，其沿所述第一方向滑动设置于所述框架上并与所述第一抽屉盒平行设置，所述第二抽屉盒用于承载完成测试的成品工件，所述成品工件的输送方向和所述待测试工件的输送方向相反；

升降驱动源，其输出端连接于所述框架，所述升降驱动源能够驱动所述框架沿第二方向移动，其中所述第一方向和所述第二方向相互垂直设置。

作为优选，还包括第一导向组件，所述第一导向组件包括：

第一导轨，其设置于所述第一抽屉盒的底部；

第一滑板，在所述第一滑板上设置有第一导槽，所述第一导轨和所述第一导槽滑动配合；

第二导轨，其设置于所述第一滑板的底部；

第一固定板，其设置于所述框架上，在所述第一固定板上设置有第二导槽，所述第二导轨和所述第二导槽滑动配合。

作为优选，还包括第二导向组件，所述第二导向组件包括：

第一滑轨，其设置于所述第二抽屉盒的底部；

第一移动板，在所述第一移动板上设置有第一滑槽，所述第一滑轨和所述第一滑槽滑动配合；

第二滑轨，其设置于所述第一移动板的底部；