[发明专利]检测装置以及检测方法

权利要求书

1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置用于对多个微型发光器件进行电致发光检测，所述多个微型发光器件中的每一个微型发光器件包括设于相同侧的第一电极和第二电极，所述检测装置包括：

基板；

多个检测部，所述多个检测部设于所述基板上，所述多个检测部用于对所述多个微型发光器件进行电致发光检测，所述多个检测部中的每一个检测部包括设于相同侧第一检测电极和第二检测电极，当所述多个检测部对所述多个微型发光器件进行电致发光检测时，所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件的第一电极电性连接，所述多个检测部中的每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件中的第二电极电性连接；

信号产生器，当所述检测装置对所述多个微型发光器件进行电致发光检测时，所述信号产生器向所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极提供相异的电信号，使得所述多个微型发光器件发光；

光学器件，所述光学器件位于所述多个微型发光器件的至少一侧，所述光学器件用于根据所述多个微型发光器件的发光情况，以获取所述多个微型发光器件的光学参数。

2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件的第一电极相对设置，所述多个检测部中的每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件的第二电极相对设置。

3.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极之间具有间隙，使得所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极之间绝缘。

4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述间隙中设有阻挡部，使得所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极之间绝缘。

5.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述多个检测部中的每一个检测部还包括：

垫高部，所述垫高部设于所述基板与对应的第一检测电极之间，以及所述垫高部设于所述基板与对应的第二检测电极之间，以垫高对应的第一检测电极和对应的第二检测电极。

6.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述多个检测部中的每一个检测部还包括：

第一绝缘部，所述第一绝缘部设于对应的第一检测电极上的第一绝缘区，所述第一绝缘区远离对应的第二检测电极；

第二绝缘部，所述第二绝缘部设于对应的第二检测电极上的第二绝缘区，所述第二绝缘区远离对应的第一检测电极。

7.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述多个检测部中位于同一排且相邻的两个检测部的第一检测电极和第二检测电极的排列顺序相反，所述多个检测部中位于同一排且相邻的两个检测部中相互靠近的两个第一检测电极一体成型，并且所述多个检测部中位于同一排且相邻的两个检测部中相互靠近的两个第二检测电极一体成型。

8.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述基板的组成材料为透明材料。

9.一种检测方法，其特征在于，所述方法用于对多个微型发光器件进行电致发光检测，所述多个微型发光器件中的每一个微型发光器件包括设于相同侧的第一电极和第二电极，所述检测方法包括：

提供所述多个微型发光器件和检测装置，所述检测装置包括基板和设于所述基板上的多个检测部，所述多个检测部用于对所述多个微型发光器件进行电致发光检测，所述多个检测部中的每一个检测部包括第一检测电极和第二检测电极；

将所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件中的第一电极电性连接，并且将所述多个检测部中的每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件的第二电极电性连接；

向所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和第二检测电极提供相异的电信号，使得所述多个微型发光器件发光；

根据所述多个微型发光器件的发光情况，获取所述多个微型发光器件的光学参数。

10.如权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述将所述多个检测部中的每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件中的第一电极电性连接，并且将所述多个检测部中的每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件的第二电极电性连接的步骤包括：

将所述多个微型发光器件阵列排布，使得所述多个微型发光器件与所述多个检测部一一对应，并且使得所述多个微型发光器件中每一个微型发光器件的第一电极和对应的检测部的第一检测电极相对设置，以及使得所述多个微型发光器件中的每一个微型发光器件中的第二电极和对应的检测部的第二检测电极相对设置；

将所述检测装置靠近呈阵列排布的所述多个微型发光器件，使得所述多个检测部中每一个检测部的第一检测电极和对应的微型发光器件的第一电极接触且电性连接，并且使得所述多个检测部中每一个检测部的第二检测电极和对应的微型发光器件的第二电极接触且电性连接。