[发明专利]一种GIP电路及其控制方法和GIP输出信号检测电路

权利要求书

1.一种GIP电路，其特征在于，包括预充电路、输出电路、下拉电路和晶体管T10，所述预充电路分别与输出电路、下拉电路和晶体管T10的栅极电连接，所述输出电路分别与下拉电路、晶体管T10的源极和外设的时钟信号电连接，所述预充电路与扫描信号线G_n-4电连接，所述下拉电路与扫描信号线G_n+4电连接，所述扫描信号线G_n-4和扫描信号线G_n+4中的参数n均为大于或者等于4的正整数。

2.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述预充电路包括晶体管T1，所述晶体管T1的栅极与扫描信号线G_n-4电连接，所述晶体管T1的源极分别与输出电路和下拉电路电连接。

3.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述输出电路包括晶体管T4和电容C1，所述晶体管T4的栅极分别与预充电路、下拉电路、晶体管T10的栅极和电容C1的一端电连接，所述晶体管T4的漏极与时钟信号电连接，所述晶体管T4的源极分别与电容C1的另一端、晶体管T10的源极和下拉电路电连接。

4.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述晶体管T2、晶体管T3、晶体管T5、晶体管T7、晶体管T8和晶体管T9，所述晶体管T2的栅极分别与预充电路、晶体管T7的漏极、输出电路和晶体管T10的栅极电连接，所述晶体管T2的漏极分别与晶体管T3的栅极、晶体管T8的漏极、晶体管T9的漏极和晶体管T5的栅极电连接，所述晶体管T2的源极分别与晶体管T3的源极、晶体管T9的源极和晶体管T5的源极电连接，所述晶体管T8的栅极与晶体管T8的源极电连接，所述晶体管T5的漏极分别与输出电路和晶体管T10的源极电连接。

5.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述晶体管T10为薄膜晶体管。

6.根据权利要求1所述的GIP电路，其特征在于，所述GIP电路的晶体管T10的漏极与外设的测试信号线电连接。

7.一种权利要求1-6任意一项所述的GIP电路的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1、在第一时间段，控制预充电路输入高电平；

步骤S2、在第二时间段，控制输出电路输入高电平；

步骤S3、在第三时间段，控制下拉电路输入高电平；所述第一时间段、第二时间段和第三时间段为依次连续的时间段，且所述第一时间段、第二时间段和第三时间段三者的时间段均相等。

8.一种GIP输出信号检测电路，其特征在于，包括两个以上的测试信号线，每个所述测试信号线上均电连接有两个以上的权利要求1-6任意一项所述的GIP电路。

9.根据权利要求8所述的GIP输出信号检测电路，其特征在于，所述GIP电路的晶体管T10的漏极与测试信号线电连接。