[发明专利]针对片上系统(SOC)的低功率调试架构和系统在审
申请号: | 202010326725.5 | 申请日: | 2015-08-13 |
公开(公告)号: | CN111522745A | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 桑卡兰·梅农;巴布·特尔普;罗尔夫·库赫尼斯 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宗晓斌 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 针对 系统 soc 功率 调试 架构 | ||
本申请涉及针对片上系统(SOC)的低功率调试架构和系统。在实施例中,一种装置包括:中央调试单元,该中央调试单元接收一个或多个功能调试信号,该中央调试单元还被配置为从至少一个固件源、至少一个软件源、和至少一个硬件源接收调试信息,并输出经压缩的调试信息;系统跟踪模块,该系统跟踪模块接收经压缩的调试信息并对经压缩的调试信息进行时间标记;并行跟踪接口,该并行跟踪接口接收经时间标记的经压缩的调试信息,并且对经时间标记的经压缩的调试信息进行并行化;和/或输出单元,该输出单元在多个输出路径中的一个输出路径上输出并行化的经时间标记的经压缩的调试信息。描述并要求保护了其他的实施例。
本申请是申请日为2015年8月13日、申请号为201580041764.8(PCT国际申请号为PCT/US2015/044958)、名称为“针对片上系统(SOC)和系统的低功率调试架构”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
实施例涉及针对集成电路以及结合这种电路的系统的调试操作。
背景技术
现在的片上系统(SoC)和其他集成电路(IC)被设计具有低功率指令,以实现较长的电池寿命。由于多个低功率域被设计在相比于前一代以更高的粒度唤醒和休眠的设备中,所以调试这种IC和SoC是非常具有挑战性的。当前可用的调试情况对于执行调试固件和低功率操作提供了有限的能力。
发明内容
在一个方面,一种装置包括:中央调试单元,该中央调试单元从多个源接收调试信号,该多个源包括至少一个硬件源、至少一个固件源、和至少一个软件源;跟踪合并单元,该跟踪合并单元从中央调试单元接收调试信号,并且具有仲裁逻辑以在来自多个源中的一个或多个源的调试信号和来自多个硬件单元的功能调试信号之间进行选择,该跟踪合并单元对所选择的调试信号或功能调试信号进行时间标记;并行跟踪接口,该并行跟踪接口接收经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号,并且对经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号进行并行化;串行跟踪接口,该串行跟踪接口接收经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号,并且对经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号进行串行化;以及选择单元,该选择单元从中央调试单元接收调试信号并从并行跟踪接口接收并行化的经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号,并在调试信号和并行化的经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号中选择一个用于在输出路径上输出,其中输出路径将从多个输出路径中被选择。
附图说明
图1是根据实施例的处理器的部分的框图。
图2是根据本发明的实施例的处理器的另一框图。
图3是根据本发明的实施例的跟踪集合单元的框图。
图4是根据本发明的实施例的方法的流程图。
图5是根据本发明的实施例的系统的框图。
图6是实施例可以使用的示例系统的框图。
图7是实施例可以使用的另一示例系统的框图。
图8是根据实施例的片上系统的框图。
具体实施方式
在各个实施例中,针对处理器和其他片上系统(SoC)(包括系统级封装(SiP)、多芯片封装(MCP))提供了功率感知低功率调试架构,例如使得在系统中实现的这些设备的多种方面可以被测试/调试,例如固件操作包括但不限于启动,低功率操作包括但不限于低功率状态进入/退出等。该调试架构可以被用来调试低功率平板电脑和智能手机IC/SoC、诸如物联网(IoT)设备、可穿戴设备之类的嵌入式设备以及在客户端/服务器应用中使用的低功率设备。因此实施例提供了早期启动调试期间硬件/软件/固件的可观察性、低功率条件和低功率进入/退出转换,从而提供对系统的整体操作范围的有效调试。在不同的实施例中,调试触发可以被包括在任意固件、操作系统或其他软件中,从而触发调试信息可以被选择性地收集的点,以测试各种平台操作条件。
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