[发明专利]一种阵列基板、显示装置及其绑定检测方法

权利要求书

1.一种阵列基板，其特征在于，包括显示区和台阶区，所述台阶区包括绑定区；

所述阵列基板包括：

衬底；

多条数据线，位于所述衬底一侧的所述显示区，沿第二方向延伸并沿第一方向排列，所述第一方向与所述第二方向交叉；

至少一个短接部件，位于所述衬底一侧的所述绑定区内；驱动芯片绑定到所述绑定区后，所述驱动芯片中的至少两个引脚被同一个所述短接部件短接导通；

还包括：

测试开关组件，位于所述衬底一侧的所述台阶区，且位于所述绑定区与所述显示区之间；所述测试开关组件包括输入端、输出端和控制端，所述输出端与所述数据线电连接；

所述驱动芯片的引脚包括第一测试开关控制引脚，所述驱动芯片绑定到所述绑定区后，所述第一测试开关控制引脚通过至少一个所述短接部件与所述控制端电连接，用于控制所述测试开关组件关闭；

还包括位于所述台阶区的连接线；

所述驱动芯片绑定到所述绑定区后，所述连接线的一端与所述第一测试开关控制引脚电连接，所述连接线的另一端与所述输入端电连接。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，包括多个衬垫；

所述短接部件包括至少两个所述衬垫和短接走线，同一个所述短接部件中的所有衬垫被同一条所述短接走线短接导通；所述驱动芯片绑定到所述绑定区后，所述驱动芯片中的引脚与所述衬垫对接；所述多个衬垫包括多个功能衬垫和多个检测衬垫；

所述多个功能衬垫沿所述第一方向以及所述第二方向排列成m行n列的矩阵，m≥2，n＞m；所述多个检测衬垫包括第一检测衬垫阵列和第二检测衬垫阵列，所述多个功能衬垫位于所述第一检测衬垫阵列与所述第二检测衬垫阵列之间；所述第一检测衬垫阵列以及所述第二检测衬垫阵列中的所述检测衬垫均沿所述第一方向以及所述第二方向排列成m行k列的矩阵，k≥m。

3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，包括多个衬垫；

所述短接部件包括至少两个所述衬垫和短接走线，同一个所述短接部件中的所有衬垫被同一条所述短接走线短接导通；所述驱动芯片绑定到所述绑定区后，所述驱动芯片中的引脚与所述衬垫对接；

所述多个衬垫包括多个功能衬垫和多个检测衬垫；

所述多个功能衬垫沿所述第一方向以及所述第二方向排列成m行n列的矩阵，m≥2，n＞m；所述多个检测衬垫包括第三检测衬垫阵列和第四检测衬垫阵列，所述多个功能衬垫位于所述第三检测衬垫阵列与所述第四检测衬垫阵列之间；所述第三检测衬垫阵列以及所述第四检测衬垫阵列中的所述检测衬垫均沿所述第二方向排列成一列。

4.根据权利要求2或者3所述的阵列基板，其特征在于，所述检测衬垫在所述衬底垂直投影的面积小于所述功能衬垫在所述衬底垂直投影的面积。

5.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试开关组件的输入端包括第一输入端和第二输入端；

所述测试开关组件包括多个薄膜晶体管，所有所述薄膜晶体管的栅极电连接构成所述控制端；奇数列所述薄膜晶体管的源极电连接构成所述第一输入端，偶数列所述薄膜晶体管的源极电连接构成所述第二输入端，所述薄膜晶体管的漏极为所述输出端。

6.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板围绕弯曲轴弯曲，所述弯曲轴平行于所述第二方向。

7.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-6任一项所述的阵列基板，以及驱动芯片。

8.一种基于权利要求7所述显示装置的绑定检测方法，其特征在于，包括：

驱动芯片中的绑定检测电路每隔预设时间间隔通过检测信号输出引脚发送检测信号，并通过检测信号输入引脚接收所述检测信号的回波信号；

在接收到的所述回波信号的阻抗值大于预设阻抗值时，发出警报。