[发明专利]复杂电子系统可靠性量化方法、装置和计算机设备

权利要求书

1.一种复杂电子系统可靠性量化方法，其特征在于，所述方法包括：

根据预设的紧缩系统确定规则，构建全系统对应的紧缩系统；所述紧缩系统指的是对所述全系统的组成规模进行缩减，构成的能够保持所述全系统功能的新系统；

根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数，确定所述紧缩系统的试验方案；

根据所述紧缩系统的试验方案对所述紧缩系统进行可靠性试验，并根据所述可靠性试验的试验结果，计算得到所述紧缩系统的量化值；所述量化值用于表征所述紧缩系统对应的全系统的可靠性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的紧缩系统确定规则包括：性能等效、可检测性、硬件全面性、最大紧缩比、保留测试端口、应用软件一致以及具备自检测BIT功能；

所述性能等效指的是所述紧缩系统应满足与所述全系统的功能、性能等效的基本原则；

所述可检测性指的是所述紧缩系统应满足进行性能检测的要求；

所述硬件全面性指的是所述紧缩系统紧缩应包括所述全系统的所有类型的硬件；

所述最大紧缩比指的是所述紧缩系统中的设备构成与所述全系统中的设备构成之比，应达到最大值；

所述保留测试端口指的是所述紧缩系统中应保留所述全系统中的所有的测试端口；

所述应用软件一致指的是所述紧缩系统的应用软件应与所述全系统的应用软件应保持一致；

所述具备自检测BIT功能指的是所述紧缩系统应具备BIT功能。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设备参数包括设备数量、失效率预计值以及失效率分配值；所述根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数，确定所述紧缩系统的试验方案，包括：

根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数，计算所述紧缩系统的试验指标；所述紧缩系统的试验指标用于表征所述紧缩系统的试验规模；

根据所述紧缩系统的试验指标，确定所述紧缩系统的试验时间，并根据所述试验时间确定所述紧缩系统的试验方案。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述紧缩系统的设备参数和所述全系统的设备参数，计算所述紧缩系统的试验指标，包括：

根据所述紧缩系统的设备数量和所述紧缩系统中各个设备的失效率预计值，计算得到所述紧缩系统的设备失效率；

根据所述全系统的设备数量和各所述全系统中各个设备的失效率预计值，计算得到所述全系统的设备失效率；

根据所述紧缩系统的设备失效率、所述全系统的设备失效率和所述紧缩系统中各个设备的失效率分配值之和，计算所述紧缩系统的试验指标。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述可靠性试验的试验结果包括所述紧缩系统的故障数；所述根据所述紧缩系统的试验方案对所述紧缩系统进行可靠性试验，并根据所述可靠性试验的试验结果，计算得到所述紧缩系统的量化值，包括：

根据所述紧缩系统的试验方案对所述紧缩系统进行可靠性试验，得到所述紧缩系统的故障数；

根据所述紧缩系统的故障数和所述紧缩系统的试验时间，计算所述紧缩系统的量化值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述紧缩系统的量化值与所述全系统中各个设备的失效率分配值之和进行比较；

若所述紧缩系统的量化值大于或等于所述全系统中各个设备的失效率分配值之和，则确定所述全系统的可靠性符合预设的可靠性要求；所述预设的可靠性要求指的是根据实际情况对所述全系统提出的可靠性要求；

若所述紧缩系统的量化值小于所述全系统中各个设备的失效率分配值之和，则确定所述全系统的可靠性不符合所述可靠性要求。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据预设的紧缩系统确定规则，构建全系统对应的紧缩系统之后，所述方法还包括：

根据预设的环境规则，确定所述紧缩系统的环境条件；所述环境规则包括所述紧缩系统的温度应力与所述全系统的温度应力一致、所述紧缩系统的湿度应力与所述全系统的湿度应力一致以及所述紧缩系统的振动应力为所述全系统的振动应力的最大值。