[发明专利]一种红外测温仪外置温度参考源校正系统及方法

权利要求书

1.一种红外测温仪外置温度参考源校正系统，其特征在于：包括位移装置和内置有温度传感器的金属挡片，所述位移装置与红外测温仪配合设置，所述金属挡片安装在所述位移装置上；

所述位移装置用于在所述红外测温仪进行温度重新标定时，带动所述金属挡片移动至所述红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头，并在所述镜头前停留预设时间后带动所述金属挡片从所述镜头前移除；

所述金属挡片用于作为外部温度测量参考源，并通过内置的温度传感器测量其内部温度；

所述红外测温仪用于获取所述温度传感器输出的所述内部温度，并根据所述内部温度对基准温度重新进行标定。

2.根据权利要求1所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统，其特征在于：所述位移装置固定设置在所述红外测温仪的外壳上。

3.根据权利要求1所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统，其特征在于：所述位移装置具体为舵机。

4.根据权利要求1至3任一项所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统，其特征在于：所述红外测温仪内设有计时器，所述位移装置具体用于当所述计时器累计计时达到预设周期时，带动所述金属挡片移动至所述红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头，并在所述镜头前停留预设时间后，所述计时器清零重新计时，且带动所述金属挡片从所述镜头前移除复位。

5.根据权利要求1至3任一项所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统，其特征在于：所述红外测温仪具体用于，当所述金属挡片遮蔽所述镜头时测量所述金属挡片的表面温度，同时获取所述温度传感器当前输出的所述内部温度，根据所述表面温度和所述内部温度之间的相对温度关系重新标定所述基准温度。

6.一种红外测温仪外置温度参考源校正方法，其特征在于：利用上述权利要求1至5任一项所述的红外测温仪外置温度参考源校正系统进行校正，包括如下步骤，

位移装置带动内置有温度传感器的金属挡片移动至红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头，并在所述镜头前停留预设时间；

所述金属挡片在所述镜头前停留的预设时间内，所述温度传感器测量所述金属挡片的内部温度；且所述金属挡片在所述镜头前停留预设时间后，所述位移装置带动所述金属挡片从所述镜头前移除；

所述红外测温仪获取所述温度传感器输出的所述内部温度，并根据所述内部温度对基准温度重新进行标定。

7.根据权利要求6所述的红外测温仪外置温度参考源校正方法，其特征在于：所述红外测温仪内设有计时器；

位移装置带动内置有温度传感器的金属挡片移动至红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头，并在所述镜头前停留预设时间，具体为，

当所述计时器累计计时达到预设周期时，所述位移装置带动所述金属挡片移动至所述红外测温仪的镜头前遮蔽所述镜头，并在所述镜头前停留预设时间。

8.根据权利要求7所述的红外测温仪外置温度参考源校正方法，其特征在于：所述金属挡片在所述镜头前停留预设时间后，所述计时器清零重新计时，且所述位移装置带动所述金属挡片从所述镜头前移除复位。

9.根据权利要求6至8任一项所述的红外测温仪外置温度参考源校正方法，其特征在于：所述红外测温仪获取所述温度传感器输出的所述内部温度，并根据所述内部温度对基准温度重新进行标定，具体包括如下步骤，

所述红外测温仪在所述金属挡片遮蔽所述镜头时，测量所述金属挡片的表面温度，同时获取所述温度传感器当前输出的所述内部温度，根据所述表面温度和所述内部温度之间的相对温度关系重新标定所述基准温度。