[发明专利]一种基于线性化路径的X光扫描系统有效
申请号: | 202010328332.8 | 申请日: | 2020-04-23 |
公开(公告)号: | CN111528875B | 公开(公告)日: | 2023-05-05 |
发明(设计)人: | 王少白 | 申请(专利权)人: | 上海逸动医学科技有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 | 代理人: | 邓盛花 |
地址: | 201600 上海市松江区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 线性化 路径 扫描 系统 | ||
1.一种基于线性化路径的X光扫描系统,其特征在于:
在X光机设备的X光接收装置内设置若干区域化的传感部位,每个区域化的传感部位上都设置有若干点状分布的传感器;
在X光机设备的X光照射装置、X光接收装置上定义同步对应的系统坐标;
在X光机设备的X光接收装置上采集需要扫描的人体部位节点坐标参数;
在计算机分析系统中区域化节点参数的分析,包括对采集到参数信息中的端侧节点参数分析,以及对应边界位置的环节节点参数分析,通过对环节动态节点参数与端侧节点间形成的初始线性化函数之间的对应参数对比,输出最终线性路径参数/函数;
计算机分析系统对区域化节点参数进行参数分析:
包括对上临界区域的线性分析:
设上临界区域节点低位点坐标:(X1,Y1);
设上临界区域节点高位点坐标:(X2,Y2);
设上临界区域动态坐标:(Xu,Yu);
上位初始线性函数F12(X)=F[(X1,Y1),(X2,Y2)];
设上位差量Cs=Yu-F12(Xu);
对上位差量的对应值进行分析,建立集合{Cs},并取其中的最大值Cmax(最大值Cmax可为正值或负值);
当最大值Cmax为正值时,则最终该区域段内的上位线性边界为Fa=F12(X)+Cmax;
当最大值Cmax为负值时,则最终该区域段内的上位线性边界为Fa=F12(X);
计算机分析系统对区域化节点参数进行参数分析:
包括对下临界区域的线性分析:
设下临界区域节点低位点坐标:(X3,Y3);
设下临界区域节点高位点坐标:(X4,Y4);
设下临界区域动态坐标:(Xd,Yd);
下位初始线性函数F34(X)=F[(X3,Y3),(X4,Y4)];
设下位差量Cd=Yd-F34(Xd);
对下位差量的对应值进行分析,建立集合{Cs},并取其中的最小值Cmin(最小值Cmin可为正值或负值);
当最小值Cmin为正值时,则最终该区域段内的下位线性边界为Fb=F34(X);
当最小值Cmin为负值时,则最终该区域段内的下位线性边界为Fb=F34(X)-︱Cmin︱。
2.根据权利要求1所述的一种基于线性化路径的X光扫描系统,其特征在于:
X光机设备上采用到的压力位置信息通过信号转换模块,将压力点位信息转换为系统内预设定的坐标参数信息。
3.根据权利要求1所述的一种基于线性化路径的X光扫描系统,其特征在于:
计算机分析系统中通过得到最终线性路径参数/函数,驱动控制系统/控制器,完成X光机设备的线性化扫描过程。
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