[发明专利]断层封堵性分析方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010331935.3 申请日: 2020-04-24
公开(公告)号: CN113552622A 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 李翔;张强;石亚军;白亚东;王玉林 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V1/30 分类号: G01V1/30;G01V1/28
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;汤在彦
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 断层 封堵 分析 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种断层封堵性分析方法,其特征在于,包括:

根据预反演的工区相对阻抗数据体,建立工区三维构造模型;

根据工区三维构造模型,对单井岩相数据进行属性建模,得到工区相控数据体;

在工区相控数据体约束下,对泥质含量数据进行地质统计学建模,得到泥质含量模型;

根据泥质含量模型,计算出工区断层的泥岩涂抹系数;

结合区域地质数据,根据工区断层的泥岩涂抹系数,对断层封堵性进行分析。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预反演的工区相对阻抗数据体,按如下方式反演:

对加载到反演及建模系统的多种地震数据,利用波阻抗反演,得到工区相对阻抗数据体;所述多种地震数据包括岩相数据,地震解释数据,测井数据及分层数据的其中之一或任意组合。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据工区三维构造模型,对单井岩相数据进行属性建模,得到工区相控数据体,包括:

根据工区三维构造模型,对单井岩相数据进行属性建模中的岩相建模,得到工区相控数据体。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在工区相控数据体约束下,对泥质含量数据进行地质统计学建模,得到泥质含量模型,包括:

在工区相控数据体约束下,对泥质含量曲线进行地质统计学建模中的自然伽马地质统计学建模,得到泥质含量模型。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据泥质含量模型,计算出工区断层的泥岩涂抹系数,包括:

根据泥质含量模型,计算断层每一层的泥岩厚度和断移地层厚度;

根据断层每一层的泥岩厚度和断移地层厚度,计算断层每一层的泥岩涂抹系数。

6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,按如下公式,计算断层每一层的泥岩厚度:

Pn=Vsh×ΔZn

其中,Pn表示断层地震剖面第n层的泥岩厚度,Vsh为泥质含量模型,ΔZn表示地震剖面第n层的地层厚度。

7.如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据泥质含量模型,计算断层每一层的断移地层厚度,包括:

根据泥质含量模型,获取断层每一层地震剖面的时间厚度,地层速度,以及断层倾角;

根据断层每一层地震剖面的时间厚度和地层速度,计算断层每一层地震剖面的垂直断距;

根据断层每一层地震剖面的垂直断距和断层倾角,计算断层每一层地震剖面的断移地层厚度。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,按如下公式,计算断层每一层地震剖面的断移地层厚度:

其中,Tn表示断层第n层地震剖面的断移地层厚度,tn表示断层第n层地震剖面的时间厚度,V表示断层地震剖面的地层速度,θ表示断层地震剖面的断层倾角。

9.如权利要求5所述的方法,其特征在于,按如下公式,计算断层每一层的泥岩涂抹系数:

其中,SGRn为断层每n层的泥岩涂抹系数,Tn表示断层第n层地震剖面的断移地层厚度,Pn表示断层地震剖面第n层的泥岩厚度,θ表示断层地震剖面的断层倾角,ΔZn表示地震剖面第n层的地层厚度。

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