[发明专利]晶体时钟失效侦测系统及其侦测方法

说明书

本发明公开了晶体时钟失效侦测系统及其侦测方法,晶体时钟失效侦测方法，包括以下步骤S1：启动被侦测晶体时钟以使被侦测晶体时钟计数器和RCL时钟计数器同时进行计数；步骤S2：如果RCL时钟计数器没有达到设定的溢出值并且被侦测晶体时钟达到稳定状态则判定被侦测晶体时钟达到工作状态，执行步骤S3；步骤S3：被侦测晶体时钟达到工作状态后被侦测晶体时钟计数器和RCL时钟计数器同时进行计数。本发明公开的晶体时钟失效侦测系统及其侦测方法，其将时钟稳定、时钟失效检测和时钟启动检测三部分电路复用，实现其功能，并且能有效节省芯片面积，降低系统功耗，提高系统稳定性。

技术领域

本发明属于晶体时钟技术领域，具体涉及一种晶体时钟失效侦测系统和一种晶体时钟失效侦测方法。

背景技术

晶体时钟作为系统中电子设备的时钟发生器，有着大量且广泛的应用。由于其可以产生整个电子设备中的时钟信号，常被称为电子设备的“心脏”。

如果晶体时钟出现问题甚至停整，对电子设备的工作一定是有重大影响甚至会导致系统失效。传统对失效晶体时钟进行失效检测的方法通常是利用经验进行检测的，目前对失效晶体时钟的检测工作并没有一套确定的检测流程及检测方法。

公开号为：CN108169651A，主题名称为一种时钟晶体振荡器检测方法的发明专利，其技术方案公开了“包括整体检测过程，包括以下步骤：用显微镜检查器件的外观，包括外壳、焊盘、引线，是否存在污染、脱离、缺损、锈蚀；用X光检查键合丝、导电胶和其他金属连接部位，是否存在开路、短路；开封检测过程，包括以下步骤：用显微镜或金相显微镜检测晶片、电极、基座、支架、点胶点是否有损伤、污染、裂纹、破碎；所述开封检测过程在整体检测过程之后进行；所述任意一项步骤得到肯定结果，确认所述时钟晶体振荡器失效原因，不再进行其他步骤”。

以上述发明专利为例，其是对时钟晶体振荡器的检测，与本发明的技术方案和技术问题不同。因此，针对上述问题，予以进一步改进。

发明内容

本发明的主要目的在于提供晶体时钟失效侦测系统及其侦测方法，其将时钟稳定、时钟失效检测和时钟启动检测三部分电路复用，实现其功能，并且能有效节省芯片面积，降低系统功耗，提高系统稳定性。

本发明的另一目的在于提供晶体时钟失效侦测系统及其侦测方法，其共用了时钟计数器，简化电路设计、节省面积、降低功耗。

为达到以上目的，本发明提供一种晶体时钟失效侦测方法，用于侦测晶体时钟失效，包括以下步骤：

步骤S1：启动被侦测晶体时钟以使被侦测晶体时钟计数器和RCL时钟计数器同时进行计数，根据RCL时钟计数器的溢出状态和被侦测晶体时钟的稳定状态对被侦测晶体时钟进行侦测；

步骤S2：如果RCL时钟计数器没有达到设定的溢出值并且被侦测晶体时钟达到稳定状态则判定被侦测晶体时钟达到工作状态，执行步骤S3，否则判定被侦测晶体时钟失效(fail)并且执行步骤S1；

步骤S3：被侦测晶体时钟达到工作状态后被侦测晶体时钟计数器和RCL时钟计数器同时进行计数，根据RCL时钟计数器的溢出状态和被侦测晶体时钟计数器的阈值状态对被侦测晶体时钟进行侦测。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，步骤S1具体实施为以下步骤：

步骤S1.1：启动被侦测晶体时钟后RCL时钟计数器进行计时并且根据RCL时钟计数器的溢出状态对被侦测晶体时钟进行侦测；

步骤S1.2：启动被侦测晶体时钟后被侦测晶体时钟计数器进行计时并且根据被侦测时钟计数器的稳定状态对被侦测晶体时钟进行侦测。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，步骤S1具体实施为以下步骤：

步骤S1.1.1：如果RCL时钟计数器没有达到设定的溢出值，则RCL时钟计数器继续进行计数；