[发明专利]一种新型双通路小型化半导体浪涌防护器件及其制造方法在审
申请号: | 202010332990.4 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN111370380A | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 张英鹏;苏海伟;魏峰;单少杰;范炜盛;王帅;赵鹏;范婷;郑彩霞 | 申请(专利权)人: | 上海维安半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/482 | 分类号: | H01L23/482;H01L23/49;H01L23/495;H01L21/60 |
代理公司: | 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 | 代理人: | 董梅 |
地址: | 201202 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 通路 小型化 半导体 浪涌 防护 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种新型双通路小型化浪涌防护器件,包括半导体芯片、金属电极和包覆器件的塑封体,其特征在于,
在半导体芯片正面有半导体芯片金属焊接区PAD一、二,下方有铜框架基岛;
二金属铜电极一、二分别连接在金属焊接区PAD一、二上;
在二金属铜电极一、二和铜框架基岛底面分别引出金属引脚。
本发明不但小型化,而且可以单颗器件在应用电路中实现共模和差模防护。
2.根据权利要求1所述的新型双通路小型化浪涌防护器件,其特征在于:在半导体芯片正面通过包括却不限于铜丝键合植球,电镀方式与铜金属电极相连。
3.一种根据权利要求1或2所述新型双通路小型化浪涌防护器件的制造方法,其特征在于,包括下述步骤:
步骤A:将半导体芯片背面和铜框架基岛焊接;
步骤B:在步骤A后,在半导体芯片正面与铜金属电极相连;
步骤C:对步骤B结构使用环氧树脂塑封料进行塑封;
步骤D:对半导体芯片背面的铜框架基岛和正面的铜金属电极进行包括研磨、电镀、蒸发工序,进行电极引脚连接,得到新型双通路小型化浪涌防护器件。
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