[发明专利]一种建筑物尺寸测量方法有效

专利信息
申请号: 202010334414.3 申请日: 2020-04-24
公开(公告)号: CN111412904B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 武一苇 申请(专利权)人: 武汉派涅尔科技有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01C1/00
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 左正超
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 建筑物 尺寸 测量方法
【说明书】:

发明涉及建筑检测技术领域,其目的在于提供一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。本发明公开了一种建筑物尺寸测量系统,包括标靶和视觉检测装置,标靶设置在建筑物的待检测点上,标靶为多面体结构,视觉检测装置设置在基准点上。本发明还公开了一种建筑物尺寸测量方法,包括:使标靶与建筑物的待检测点对应,在标靶上预设多个特征点,得到标靶的各特征点之间的距离;使视觉检测装置与基准点对应;视觉检测装置测量标靶的各特征点的方位信息;得到标靶相对于视觉检测装置的第一位姿。本发明的建筑物尺寸测量系统具有测量效率高,可同时实现建筑物某待测点的位置和姿态的测量;建筑物尺寸测量方法可提升对建筑物的测量效率。

技术领域

本发明涉及建筑检测技术领域,特别是涉及一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。

背景技术

建筑工程中,为确保建筑质量与尺寸精度,需要定期定节点对建筑物的各种几何尺寸进行测量。根据测量结果,决定已经完成的工作是否合格,并对后一阶段的工程进行对应的调整。其测量的效率直接影响项目的工期,测量的精度决定了工程的质量。

现有技术中,一般使用经纬仪实现测量,测量时,利用固定的基准点对建筑物结构的其他关键尺寸进行测量。然而,由于建筑工程现场环节复杂,建筑物结构尺寸众多,难以依靠单一基准点完成测量工作,实际操作过程中,往往需要进行多次基准变换,造成测量效率低下,与此同时,由于每一次基准变换都会导致显著的误差累计,从而导致最终的测量精度降低,不利于准确掌握建筑物的真实数据。因此,有必要研究一种测量效率高的建筑物尺寸测量系统及测量方法。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题,本发明提供了一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。

本发明采用的技术方案是:

一种建筑物尺寸测量系统,包括标靶和与标靶对应设置的视觉检测装置,所述标靶设置在建筑物的待检测点上,所述标靶为多面体结构,所述视觉检测装置设置在远离建筑物的任一基准点上。

优选地,所述标靶可移动地设置在建筑物上。

优选地,所述视觉检测装置设置有多个,多个所述视觉检测装置分散设置,多个所述视觉检测装置分别设置在远离建筑物的多个基准点上。

优选地,所述视觉检测装置包括激光雷达或超声波雷达。

一种根据上述的建筑物尺寸测量系统的测量方法,包括以下步骤:

使标靶与建筑物的待检测点对应,在标靶上预设多个特征点,得到标靶的各特征点之间的距离;

使视觉检测装置与远离建筑物的任一基准点对应;

视觉检测装置测量标靶的各特征点的方位信息;

根据标靶的各特征点之间的距离和标靶的各特征点的方位信息,得到标靶相对于视觉检测装置的第一位姿。

优选地,所述得到标靶相对于视觉检测装置的第一位姿的步骤后,还包括以下步骤:

移动标靶,使标靶与建筑物的另一待检测点对应;

视觉检测装置再次测量标靶的各特征点的方位信息;

根据标靶的各特征点之间的距离和再次测量到的标靶的各特征点的方位信息,得到标靶相对于视觉检测装置的第二位姿;

得到标靶相对于视觉检测装置的第二位姿;

根据视觉检测装置相对于标靶的第一位姿和视觉检测装置相对于标靶的第二位姿,得到标靶相对于视觉检测装置的平均位姿。

优选地,所述使标靶与建筑物的待检测点对应的步骤中,还包括以下步骤:

调整标靶的位置,使标靶的底面与水平面平行。

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