[发明专利]CO2 有效
申请号: | 202010334463.7 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN111505474B | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 潘其坤;郭劲;李殿军;陈飞;谢冀江;于德洋;张阔;孙俊杰;张鲁薇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01M11/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 薛娇 |
地址: | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | co base sub | ||
1.一种激光放大器的上能级寿命测试装置,其特征在于,包括:
用于向待测激光放大器发送触发信号,启动所述待测激光放大器激发工作粒子向上能级跃迁的信号触发器;
用于对所述工作粒子由上能级向低能级跃迁释放出的能量产生的跃迁光线进行检测分析,并根据所述跃迁光线的能量以及持续时长确定所述待测激光放大器的上能级寿命的测试装置;
所述测试装置包括谐振腔、激光导出组件以及激光探测器;
其中所述谐振腔用于使得所述跃迁光线通过所述谐振腔谐振形成所述激光探测器可探测的激光;
所述激光探测器用于接收所述激光导出组件从所述谐振腔内导出的激光,并检测接收到的激光的能量,以便根据从所述待测激光放大器停止对工作粒子激发后到所述激光的能量衰减至最高能量的1/e的时长,确定所述上能级寿命;
所述谐振腔包括全反射镜和可将反射的偏振光偏振相位延迟180°的反射式相位延迟片;
所述激光导出组件包括对S偏振光高透射且对P偏振光高反射镀膜分束片,以及加上1/4波电压时可使偏振光偏振相位延迟90°的普克尔盒;
其中,所述全反射镜和所述反射式相位延迟片分别设于所述待测激光放大器的两侧;所述镀膜分束片和所述普克尔盒用于设于所述待测激光放大器和所述反射式相位延迟片之间,所述普克尔盒位于所述镀膜分束片和所述反射式相位延迟片之间;
所述全反射镜、所述待测激光放大器、所述镀膜分束片、所述普克尔盒以及所述反射式相位延迟片均位于同一光轴上。
2.如权利要求1所述的激光放大器的上能级寿命测试装置,其特征在于,所述普克尔盒和所述信号触发器相连,当所述信号触发器接收到触发信号时,所述普克尔盒上施加1/4波电压。
3.如权利要求1所述的激光放大器的上能级寿命测试装置,其特征在于,所述待测激光放大器和所述普克尔盒之间还设置有缩束镜组,用于匹配所述待测激光放大器的增益区口径与所述普克尔盒的入射口径。
4.如权利要求1所述的激光放大器的上能级寿命测试装置,其特征在于,所述测试装置为激光光谱仪,用于检测所述工作粒子由上能级向低能级跃迁释放出的能量产生的激光光线,并根据从所述待测激光放大器停止对工作粒子激发后,到接收不到激光光线持续时长确定所述上能级寿命。
5.如权利要求1所述的激光放大器的上能级寿命测试装置,其特征在于,所述信号触发器为可触发方波信号的同步触发器。
6.一种激光放大器的上能级寿命测试方法,其特征在于,应用于上述权利要求1至5任一项所述的激光放大器的上能级寿命测试装置,包括:
通过信号触发器向待测激光放大器发送触发信号,触发所述待测激光放大器内激发工作粒子向上能级跃迁;
通过测试装置对所述工作粒子由上能级向低能级跃迁释放出的能量产生的跃迁光线进行检测分析,并根据所述跃迁光线的能量以及持续时长确定所述待测激光放大器的上能级寿命。
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