[发明专利]一种成虚像光学系统的成像质量检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010334514.6 申请日: 2020-04-24
公开(公告)号: CN111366338B 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 马冬林;莫言;朱正波;许汪洋 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 虚像 光学系统 成像 质量 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种成虚像光学系统的成像质量检测方法,利用成像质量检测装置实现,其特征在于,所述成像质量检测装置包括:显示屏,待检测成虚像系统,平板透镜,接收装置;

所述显示屏上的光源依次经过所述待检测成虚像系统、所述平板透镜和所述接收装置;所述显示屏与所述平板透镜之间的夹角α为30°~45°,所述平板透镜与所述接收装置之间的夹角β为30°~45°,且满足α=β;

所述显示屏和所述待检测成虚像系统用于形成虚像;

所述平板透镜用于将所述虚像转化成实像;所述平板透镜为具有负等效折射率的平板透镜;

所述接收装置用于接收所述实像;

所述成像质量检测方法包括:

通过调整所述显示屏和所述待检测成虚像系统的位置,使所述显示屏上的光源经过所述待检测成虚像系统形成虚像;

沿着光路调整所述接收装置与所述平板透镜之间的距离,调节成像大小;

通过对所述接收装置接收到的实像进行分析,得到所述待检测成虚像系统的关键参数,从而评估所述待检测成虚像系统的成像质量。

2.如权利要求1所述的成虚像光学系统的成像质量检测方法,其特征在于,所述显示屏与所述平板透镜之间的夹角α为30°,所述平板透镜与所述接收装置之间的夹角β为30°。

3.如权利要求1所述的成虚像光学系统的成像质量检测方法,其特征在于,所述接收装置为波前传感器。

4.如权利要求1所述的成虚像光学系统的成像质量检测方法,其特征在于,所述接收装置为干涉仪。

5.如权利要求1所述的成虚像光学系统的成像质量检测方法,其特征在于,所述关键参数包括以下至少之一:放大倍率、畸变、分辨率、色差。

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