[发明专利]一种基于余弦比的LDPC码闭集识别方法在审
申请号: | 202010334647.3 | 申请日: | 2020-04-24 |
公开(公告)号: | CN111446972A | 公开(公告)日: | 2020-07-24 |
发明(设计)人: | 张立民;刘仁鑫;闫文君;钟兆根;凌青 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军航空大学 |
主分类号: | H03M13/11 | 分类号: | H03M13/11 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264001 山东省烟*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 余弦 ldpc 码闭集 识别 方法 | ||
1.一种基于余弦比的LDPC码闭集识别方法,其特征在于:通过利用接收序列的软判决信息,通过余弦比公式计算得到接收序列在不同校验矩阵下的余弦比,若余弦比大于1则符合校验关系,再结合备选码集完成LDPC码闭集逆向识别。
2.根据权利要求1所述的一种基于余弦比的LDPC码闭集识别方法,其特征在于,所述的计算得到接收序列在不同校验矩阵下的余弦比,其中的余弦比公式为表示Fi,j的均值,Fi为余弦检验函数,i为正整数,j不小于0,小于编码长度。
3.根据权利要求1所述的一种基于余弦比的LDPC码闭集识别方法,其特征在于,若余弦比大于1则符合校验关系,具体为,若符合奇偶校验关系,则余弦比大于1,若不符合,则余弦比接近1。
4.根据权利要求1所述的一种基于余弦比的LDPC码闭集识别方法,其特征是,再结合备选码集完成LDPC码闭集逆向识别,具体为,根据余弦比最大值判断出相应的检验矩阵,并根据检验矩阵得出码长及码率。
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