[发明专利]一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器及其制备方法在审
申请号: | 202010335722.8 | 申请日: | 2020-04-25 |
公开(公告)号: | CN111522153A | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 帅垚;乔石珺;罗文博;吴传贵;王韬;张万里;高琴;杨小妮 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G02F1/035 | 分类号: | G02F1/035;G02F1/03;G02F1/225 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 闫树平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 绝缘体 材料 马赫 曾德型 电光 调制器 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器,包括绝缘体上材料、调制电极和光波导,其特征在于:
所述绝缘体上材料包括自下而上依次层叠的衬底层、键合层和薄膜层;
所述调制电极贯通薄膜层设置于键合层上,并与键合层接触;调制电极为行波电极或集总电极,包括信号电极和地电极;信号电极与地电极之间设有光波导,光波导制作于薄膜层;调制电极与光波导之间的间距>0。
2.如权利要求1所述的一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器,其特征在于:所述衬底层厚度100~1000μm,键合层厚度1~10μm,薄膜层厚度0.1~1μm;调制电极的厚度0.1~10μm;所述光波导的高度0.1~1μm,宽度1~10μm。
3.如权利要求1所述的一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器,其特征在于:所述行波电极为共面波导,采用CPW或CPWG结构。
4.如权利要求1所述的一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器,其特征在于:所述光波导的结构为脊形波导或条形波导,脊形波导或条形波导的输入和输出部分均采用Y分支波导或定向耦合器。
5.如权利要求1所述的一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器,其特征在于:所述绝缘体上材料为绝缘体上硅、绝缘体上铌酸锂、绝缘体上钽酸锂、绝缘体上碳化硅、绝缘体上氮化硅、绝缘体上氮化镓、绝缘体上磷化铟或绝缘体上砷化镓中的一种;与上述各绝缘体上材料相对应薄膜层材料为硅、铌酸锂、钽酸锂、碳化硅、氮化硅、氮化镓、磷化铟、砷化镓,键合层材料为氧化硅、苯并环丁烯、聚酰亚胺、氢化硅氧烷、甲基硅氧烷、聚对苯撑苯并双噁唑、聚甲基丙烯酸甲酯,衬底层材料为蓝宝石单晶硅、石英玻璃、铌酸锂或碳化硅。
6.如权利要求1-5任一项所述的一种基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器,其特征在于:所述调制电极材料为金、银、铜、铝、铂、钛或铬中的一种或者多种组成的合金。
7.一种制备如权利要求1所述的基于绝缘体上材料的马赫-曾德型电光调制器的制备方法,其特征在于,包括如下制备步骤:
步骤1.提供绝缘体上材料,该绝缘体上材料包括由下往上依次层叠的衬底层、键合层和薄膜层,并在绝缘体上材料的薄膜层上制备图形化的掩模,然后对绝缘体上材料薄膜层进行刻蚀,形成贯穿的通孔;
步骤2.在绝缘体上材料键合层上表面,对应薄膜层通孔位置,进行金属电极层的生长;待金属电极层的上表面高度高于薄膜层并达到指定高度后,在其上旋涂光刻胶并对光刻胶进行曝光显影,得到制备调制电极结构所需的金属电极层掩模图形;
步骤3.依据步骤2中得到的金属电极层掩模图形,采用刻蚀方法得到图形化的调制电极;
步骤4.确定光波导与调制电极的位置匹配结构,然后在两个调制电极之间的薄膜层上制备图形化掩模,随后对薄膜层进行刻蚀,得到光波导。
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