[发明专利]一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法有效

专利信息
申请号: 202010336246.1 申请日: 2020-04-24
公开(公告)号: CN111553960B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 安康;伍伟文;王珏 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 投影 均值 图像 环状 快速 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法,其特征在于:包括以下步骤:

S1:投影图像预处理:通过对亮场图像和暗场图像设定阈值找出坏像元与有缺陷像元,应用插值方法替换掉这些像元后再完成增益校正;

S2:获得投影均值图像:将增益校正后的所有投影图像对应像元相加后求均值,得到基于所有投影图像的投影均值图像;

S3:获得校正系数阵列:选用适当的滤波方式对投影均值图像进行平滑滤波,得到平滑的理想投影均值图像,通过投影均值图像与理想投影均值图像得到校正系数阵列;

S4:投影图像校正:运用校正系数阵列对每个投影图像进行校正;

步骤S1具体包括:

令探测器像元阵列M×N,扫描投影数为K,通过扫描得到暗场图像B,亮场图像A,投影图像集Pn

设置合适的阈值Z1,Z2,Z3,通过公式(1)-(4)去除CT图像中坏像元与缺陷像元,得到带零像元的增益校正图像Ga;

map(i,j)=mapa(i,j)×mapb(i,j) i=1,2,3...M;j=1,2,3...N (3)

Ga(i,j)=A(i,j)×map(i,j)-B(i,j)×map(i,j) i=1,2,3...M;j=1,2,3...N (4)

其中mapa(i,j)表示暗场图像坏像元与缺陷像元分布,B(i,j)表示暗场图像,mapb(i,j)表示亮场图像坏像元与缺陷像元分布,A(i,j)表示亮场图像,map(i,j)表示综合暗场图像与亮场图像后的坏像元与缺陷像元分布;

通过数据插值,去除Ga中零像元得到增益校正图像Ga′;

通过公式对(5)(6),对每个投影图像进行增益校正,得到增益校正后带零像元的投影图像集Pgn,通过插值去除零像元,得到完成预处理的投影图像集Pgn′;

其中,Gaver表示增益校正图像所有像元均值。

2.根据权利要求1所述的基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法,其特征在于:步骤S2通过公式(7)计算得到所有投影均值图像Pa:

3.根据权利要求1所述的基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法,其特征在于:在步骤S3中,选用滤波算法对Pa进行平滑滤波,得到滤波后的理想投影均值图像Pa′,通过公式(8)计算得到校正系数阵列:

4.根据权利要求1所述的基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法,其特征在于:在步骤S4中,运用校正系数阵列,通过公式(9)完成对所有投影图像的校正得到校正后的投影图像集Pgn″,Pgn″很好的保留了投影图像集Pgn′对比度信息;

Pgn″(i,j)=Pgn′(i,j)×Coe(i,j) i=1,2,3...M;j=1,2,3...N;n=1,2,3...K (9)。

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