[发明专利]组卷方法、电子设备及计算机可读介质

说明书

本发明实施例公开了一种组卷方法、电子设备和计算机可读介质，其中，所述组卷方法包括：构建用于表征试题错误属性的试题错误要素向量、用于表征用户在预设的各个试题错误要素上的犯错概率的用户错误要素向量、用于表征用户做题习惯的用户做题偏好矩阵；根据所述用户做题偏好矩阵和组卷参数，获得用于表征待生成的试卷的试题参数的试题参数向量；从试题库中获取与所述试题错误要素向量、所述用户错误要素向量和所述试题参数向量相匹配的试题，根据获取的所述试题进行组卷。通过本发明实施例，能够显著提高组卷的智能化水平和试卷使用效果，进而改进用户的使用体验。

技术领域

本发明实施例涉及计算机技术领域，尤其涉及一种组卷方法、电子设备和计算机可读介质。

背景技术

随着在线教育的普及和教育智能化程度的提高，越来越多的学生通过网络进行学习。在学习过程，考试是验证学习效果的必不可少的一个环节。由此，用户对试卷的要求也越来越高。

在线教育系统中，通过组卷算法来组织生成试卷。传统组卷方式中，组卷算法根据给定的组卷参数生成一套合乎给定组卷参数约束的试卷即可。而随着用户要求的提高，仅仅只满足相应的组卷参数约束已经无法达到用户的使用需求，急需考虑一种更为智能、更为个性化的组卷方案，以提高试卷的智能化水平和使用效果，改进用户的使用体验。

发明内容

本发明提供了一种组卷方案，以至少部分解决上述问题。

根据本发明实施例的第一方面，提供了一种组卷方法，包括：构建用于表征试题错误属性的试题错误要素向量、用于表征用户在预设的各个试题错误要素上的犯错概率的用户错误要素向量、用于表征用户做题习惯的用户做题偏好矩阵；根据所述用户做题偏好矩阵和组卷参数，获得用于表征待生成的试卷的试题参数的试题参数向量；从试题库中获取与所述试题错误要素向量、所述用户错误要素向量和所述试题参数向量相匹配的试题，根据获取的所述试题进行组卷。

根据本发明实施例的第二方面，提供了一种电子设备，所述设备包括：一个或多个处理器；计算机可读介质，配置为存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面所述的组卷方法。

根据本发明实施例的第三方面，提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如第一方面所述的组卷方法。

根据本发明实施例提供的方案，在进行组卷时，不仅考虑组卷参数，还同时考虑试题错误属性、用户在错误要素上的犯错概率以及用户做题习惯等因素，除此之外，还根据用户做题偏好矩阵和组卷参数获得试题参数向量，基于上述各种因素进行组卷。一方面，综合上述因素组成的试卷既能够依据组卷参数满足基本的组卷约束要求，还能够根据用户做题偏好矩阵的信息很好地匹配用户的做题习惯。另一方面，通过试题错误要素向量和用户错误要素向量还能够使得组成的试卷可以帮助用户较好地改进自身的错题习惯和不足。可见，通过本发明实施例的方案，能够提供一个综合了基本组卷参数约束、用户做题偏好和用户错题习惯的个性化智能组卷方案，能够显著提高组卷的智能化水平和试卷使用效果，进而改进用户的使用体验。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为根据本发明实施例一的一种组卷方法的步骤流程图；

图2A为根据本发明实施例二的一种组卷方法的示意性流程图；

图2B为图2A所示实施例中使用的一种RNN的结构示意图；

图3为根据本发明实施例三的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式