[发明专利]面板裂纹检测方法及其装置

说明书

本发明提供一种面板裂纹检测方法及其装置，其中，所述方法包括：确定所述栅线上的栅极扫描信号在一次电压变化阶段的目标特征参数值，所述目标特征参数值与所述栅极扫描信号在一次电压变化阶段的时长相关联；若所述目标特征参数值大于预设参数值，则确定所述显示面板存在面板裂纹。本发明提供的面板裂纹检测方法及其装置，能够降低面板裂纹的检测成本。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种面板裂纹检测方法及其装置。

背景技术

在柔性有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，简称OLED)产品中，若出现面板裂纹(Panel Crack)，会造成水氧侵入电致发光元件(EL)，进而导致EL材料失效，降低产品良率。因此，检测是否存在面板裂纹对于产品质量至关重要。

相关技术中，需要在显示装置中预设很多电阻串或电压比较器，通过电阻或电压的急剧变化来判断是否出现面板裂纹，存在成本较高的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种面板裂纹检测方法及其装置，以解决相关技术中检测面板裂纹成本较高的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供一种面板裂纹检测方法，应用于显示面板，所述显示面板包括沿一方向延伸的栅线、以及与所述栅线电连接的驱动集成电路，所述驱动集成电路向所述栅线提供栅极扫描信号，所述方法包括：

确定所述栅线上的栅极扫描信号在一次电压变化阶段的目标特征参数值，所述目标特征参数值与所述栅极扫描信号在一次电压变化阶段的时长相关联；

若所述目标特征参数值大于预设参数值，则确定所述显示面板存在面板裂纹。

进一步地，所述确定所述栅线上的栅极扫描信号在一次电压变化阶段的目标特征参数值，包括：

确定所述栅线上的栅极扫描信号从低电压切换至高电压过程的第一特征参数值；

所述若所述目标特征参数值大于预设参数值，则确定所述显示面板存在面板裂纹，包括：

若所述第一特征参数值大于预设提升参数值，则确定所述显示面板存在面板裂纹。

进一步地，所述确定所述栅线上的栅极扫描信号从低电压切换至高电压过程的第一特征参数值，包括：

统计所述栅线上的栅极扫描信号从低电压切换至高电压过程中，所述驱动集成电路中振荡器的第一计数值。

进一步地，所述确定所述栅线上的栅极扫描信号在一次电压变化阶段的目标特征参数值，包括：

确定所述栅线上的栅极扫描信号从高电压切换至低电压过程的第二特征参数值；

所述若所述目标特征参数值大于预设参数值，则确定所述显示面板存在面板裂纹，包括：

若所述第二特征参数值大于预设下降参数值，则确定所述显示面板存在面板裂纹。

进一步地，所述确定所述栅线上的栅极扫描信号从高电压切换至低电压过程的第二特征参数值，包括：

统计所述栅线上的栅极扫描信号从高电压切换至低电压过程中，所述驱动集成电路中振荡器的第二计数值。

第二方面，本发明实施例提供一种面板裂纹检测装置，应用于显示面板，所述显示面板包括沿第一方向延伸的栅线、以及与所述栅线电连接的驱动集成电路，所述驱动集成电路向所述栅线提供栅极扫描信号，包括：

第一确定模块，用于确定所述栅线上的栅极扫描信号在一次电压变化阶段的目标特征参数值，所述目标特征参数值与所述栅极扫描信号在一次电压变化阶段的时长相关联；