[发明专利]阵列样品光谱测试系统在审

专利信息
申请号: 202010343788.1 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN113640257A 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 徐小科;刘茜;周真真 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 曹芳玲;姚佳雯
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 阵列 样品 光谱 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种阵列样品光谱测试系统,其特征在于,包括:

供载置阵列样品的样品台;

设置于所述样品台上方以对样品进行光学激发的光源单元,所述光源单元具备并列或阵列排布的多个光源,所述多个光源之间的间距与所述阵列样品之间的间距相匹配;

与所述多个光源相对应的多个探测器单元,所述探测器单元从所述样品接受光学信号并进行处理以得到所述样品的光谱数据;以及

与所述多个探测器单元连接的主控电脑,所述主控电脑记录并显示所述光谱数据。

2.如权利要求1所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,每个所述探测器单元包括:

设于所述样品台上方且面对样品的耦合镜头;以及

通过光纤连接于所述耦合镜头的光纤光谱仪,所述光纤光谱仪与所述主控电脑电连接,从而将通过对由耦合镜头得到的光学信号处理而得到的光谱数据传输至所述主控电脑。

3.如权利要求2所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,所述探测器单元包括设于所述样品台与所述耦合镜头之间的滤光片。

4.如权利要求2所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,所述耦合镜头竖直设置,所述光源单元与水平面的角度为30°至60°,且所述耦合镜头与所述光源单元的下端位于大致同一高度。

5.如权利要求2所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,所述耦合镜头和所述光纤光谱仪之间设有光谱校准装置,所述光谱校准装置包括一个宽度可调的狭缝和设于所述狭缝两端的光纤准直镜。

6.如权利要求1所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,所述光源单元包括插槽和模块化的光源组或光源阵列,所述光源组或光源阵列插设于所述插槽内。

7.如权利要求6所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,所述插槽倾斜设置,且插槽内设有磁铁,所述光源组或光源阵列对应于插槽的位置也设有磁铁,从而当所述光源组或光源阵列插入所述插槽时,对应的磁铁相吸而使所述光源组或光源阵列固定于所述插槽内。

8.如权利要求1所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,还包括设于所述样品台下部的样品台移动单元,所述样品台移动单元与所述主控电脑相连,以通过所述主控电脑控制所述样品台移动单元移动。

9.如权利要求8所述的阵列样品光谱测试系统,其特征在于,还包括连接于所述主控电脑和所述样品台移动单元之间的移动台控制器,所述移动台控制器接收所述主控电脑发送的指令并控制所述样品台移动单元移动。

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