[发明专利]一种高阶伪随机电磁勘探信号生成方法及系统有效
申请号: | 202010344733.2 | 申请日: | 2020-04-27 |
公开(公告)号: | CN111522064B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 何继善;杨洋;李帝铨;瓮晶波 | 申请(专利权)人: | 山东大学;中南大学;湖南继善高科技有限公司 |
主分类号: | G01V3/00 | 分类号: | G01V3/00 |
代理公司: | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人: | 闫伟姣 |
地址: | 250061 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高阶伪 随机 电磁 勘探 信号 生成 方法 系统 | ||
1.一种高阶伪随机电磁勘探信号生成方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据勘探需求构造两个或两个以上基本单元信号,其中,所述基本单元信号是多个同相位周期方波信号叠加得到的阶梯信号,所述多个方波信号相邻之间频率之比为2;
将所述两个或两个以上基本单元信号叠加,得到叠加阶梯信号,并修正幅值使其与方波信号幅值一致,得到高阶2n序列伪随机信号;
所述方法还包括:
对于所述两个或多个基本单元信号中的至少一个进行相位调整,寻找使得叠加后高阶2n序列伪随机信号中各主频对应频谱幅值的均方差最小的相位,作为相应基本单元信号的最优相位;
根据最优相位将所述两个或两个以上基本单元信号叠加,并修正幅值使其与方波信号幅值一致,得到最终的高阶2n序列伪随机信号;
最优相位寻找方法为:
对于进行相位调整的基本单元信号,首先将半个周期的相位弧度π拆分成N份,得到相位改变基本单元π/N;
每次调整一个相位改变基本单元,记录叠加后高阶2n序列伪随机信号中各主频对应频谱值的均方差;
绘制均方差大小随相位的变化曲线,寻找使得均方差最小的相位作为该基本单元信号的最佳相位;
根据所述方法构造得到的适用于浅层勘探的信号如下:
二阶2n序列伪随机信号,其中,两个基本单元信号的主频和相位分别为:0.25Hz和10度,0.75Hz和120度;以及,三阶2n序列伪随机信号,其中,三个基本单元信号的主频和相位分别为:0.25Hz和0度,0.75Hz和90度,1.25Hz和90度。
2.如权利要求1所述的一种高阶伪随机电磁勘探信号生成方法,其特征在于,所述两个或两个以上基本单元信号满足以下要求:
第一个基本单元信号中主频的最低频率记为基频,第n个基本单元的最低频率为基频的2n+1倍,n为大于1的自然数;
所有基本单元信号的主频数目之和为奇数。
3.如权利要求1所述的一种高阶伪随机电磁勘探信号生成方法,其特征在于,周期方波的生成方法为:
首先生成与目标周期方波频率一致的正弦信号,将这些正弦信号中,大于0的值置为A,小于0的值置为-A,得到一系列相位相同的周期方波信号,其中,A≠0;
对于周期方波中值为0的信号,按位置赋值A或-A,得到不含0值的周期方波。
4.一种高阶伪随机电磁勘探信号生成系统,其特征在于,包括:
基本单元信号构造模块,根据勘探需求构造两个或两个以上基本单元信号,其中,所述基本单元信号是多个同相位周期方波信号叠加得到的阶梯信号,所述多个方波信号相邻之间频率之比为2;
高阶伪随机信号生成模块,将所述两个或两个以上基本单元信号叠加,得到叠加阶梯信号,并修正幅值使其与方波信号幅值一致,得到高阶2n序列伪随机信号;
对于所述两个或多个基本单元信号中的至少一个进行相位调整,寻找使得叠加后高阶2n序列伪随机信号中各主频对应频谱幅值的均方差最小的相位,作为相应基本单元信号的最优相位;
根据最优相位将所述两个或两个以上基本单元信号叠加,并修正幅值使其与方波信号幅值一致,得到最终的高阶2n序列伪随机信号;
最优相位寻找方法为:
对于进行相位调整的基本单元信号,首先将半个周期的相位弧度π拆分成N份,得到相位改变基本单元π/N;
每次调整一个相位改变基本单元,记录叠加后高阶2n序列伪随机信号中各主频对应频谱值的均方差;
绘制均方差大小随相位的变化曲线,寻找使得均方差最小的相位作为该基本单元信号的最佳相位;
根据所述方法构造得到的适用于浅层勘探的信号如下:
二阶2n序列伪随机信号,其中,两个基本单元信号的主频和相位分别为:0.25Hz和10度,0.75Hz和120度;以及,三阶2n序列伪随机信号,其中,三个基本单元信号的主频和相位分别为:0.25Hz和0度,0.75Hz和90度,1.25Hz和90度。
5.一种终端设备,包括处理器和计算机可读存储介质,处理器用于实现各指令;计算机可读存储介质用于存储多条指令,其特征在于,所述指令适于由处理器加载并执行权利要求1-3中任一项所述的高阶伪随机电磁勘探信号生成方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东大学;中南大学;湖南继善高科技有限公司,未经山东大学;中南大学;湖南继善高科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010344733.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。