[发明专利]一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具在审
申请号: | 202010344901.8 | 申请日: | 2020-04-27 |
公开(公告)号: | CN111531802A | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 管安琪;马明驼;鲜明 | 申请(专利权)人: | 芜湖鼎联电子科技有限公司;上海共晶电子科技有限公司 |
主分类号: | B29C45/26 | 分类号: | B29C45/26;B29C45/78;B29C45/77;B29C45/76;H01L21/56 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 申丹宁 |
地址: | 241100 安徽省芜*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 功率 半导体器件 封装 无重熔 高温 高压 注塑 模具 | ||
1.一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,包括移动模部件和固定模部件,其特征在于,所述移动模部件包括依次设置的上模板(2)、热流道板(3)和温度调节板(6),所述移动模部件设有贯穿上模板(2)和热流道板(3)的主流道(15),所述热流道板(3)中设有第一温度传感器(4);
所述固定模组件包括下模(12)和设置在下模(12)中的型腔模板(11),所述型腔模板(11)中设有型腔(14),所述型腔(14)中设有型腔冷却器(10),所述型腔(14)的侧壁设有压力传感器和第二温度传感器;
所述第一温度传感器(4)、压力传感器和第二温度传感器均与模控系统连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述型腔(14)的底部设有型腔热屏蔽层(9)。
3.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述型腔模板(11)中设有与型腔(14)相连的瞬间冷却器(8)。
4.根据权利要求3所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述瞬间冷却器(8)之处设有高敏温度传感器(7)。
5.根据权利要求3所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述瞬间冷却器(8)与型腔(14)的底部连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述温度调节板(6)与热流道板(3)之间设有流道热屏蔽层(5)。
7.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述压力传感器和第二温度传感器设置在型腔(14)的其中一个侧壁,所述型腔冷却器(10)设置在与该侧壁相对的另一侧壁。
8.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述模控系统采用具有亚毫秒级响应速度的模控系统MCU(16)。
9.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述型腔(14)设有两部分,所述型腔冷却器(10)设置在两部分型腔(14)之间。
10.根据权利要求1所述的一种用于功率半导体器件封装的无重熔高温高压注塑模具,其特征在于,所述型腔冷却器(10)为管状。
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