[发明专利]基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法

说明书

本发明涉及检测方法的技术领域，公开了基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法，其中有以下步骤：1)、接发器往镜件发射射线，射线经过镜件后，反射入第一反射室，而后再由镜件反射进入第二反射室，射线先后在第一反射室以及第二反射室内多次反射分别经过待检测样品；通过设置第一反射室以及第二反射室，设置了接发器以及固定件，射线在第一反射室多次反射在固或液状的待检测样品上，而且射线在第二反射室内多次反射且通过气状的待检测样品，这样射线被接收后，可以从射线中检测到所检测的待检测样品的物质成分，而又由于射线是多次接触待检测样品，射线接触次数越多，检测的灵敏度越高，在对待检测物质的检测精度上十分灵敏。

技术领域

本发明专利涉及检测方法的技术领域，具体而言，涉及基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法。

背景技术

在现有的安检流程中，存在需要检测气体或固体或液体的物质成分的需求，为了快速检测待检测物质的物质成分，利用射线在物质表面多次反射后的结果进行运算得出物质成分，越来越流行。

目前，检违禁品方法主要由接发器发射射线，经过待检测的气体后，抵达第一反射板，且被第一反射板反射后直接返回到接发器中，射线通过两次待检测气体，而后接发器分析返回的射线，从而得出当前气体中所含的成分。

现有技术中，缺少一种可以用于固体、液体和气体的综合检测方法，而且现存的检测方法的检测灵敏度还不够高。

发明内容

本发明的目的在于提供基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法，旨在提供一种可以用于固体、液体和气体的综合检测方法。

本发明是这样实现的，基于多次反射和衰减全反射的综合检测方法，包括用于发射或接收射线的接发器、用于放置固或液状的待检测样品的第一反射室、用于放置气状的待检测样品的第二反射室、用于反射或分束射线的镜件以及用于反射或接收射线的固定件，其中有以下步骤：

1)、所述接发器往所述镜件发射射线，所述射线经过所述镜件后，反射入所述第一反射室，而后再由所述镜件反射进入所述第二反射室，所述射线先后在所述第一反射室以及所述第二反射室内多次反射分别经过待检测样品；

或，所述接发器往所述镜件发射射线，所述镜件将所述射线分束进入到所述第一反射室以及所述第二反射室，所述射线在所述第一反射室以及所述第二反射室内多次反射经过待检测样品；所述射线在所述第一反射室内多次反射后返回到所述镜件，经所述镜件反射后返回到所述接发器；

2)、所述固定件布置在所述第二反射室内，所述射线在所述第二反射室内多次反射后，抵达所述固定件，

所述固定件反射所述射线，在所述第二反射室内多次反射后返回到所述镜件，再次进入到所述第一反射室，再次多次反射后，由所述镜件反射回到所述接发器；

或，所述固定件吸收所述射线；

3)、所述接发器或所述固定件将所述射线转化成数据结果。

进一步地，所述第一反射室包括第一反射板、第二反射板以及用于放置所述待检测样品的置放部；所述第一反射板以及所述第二反射板之间间隔布置，所述第一反射板以及冲所述第二反射板之间围合形成所述第一反射室。

进一步地，所述第一反射板以及所述第二反射板水平布置，且正对布置，所述置放部位于所述第一反射板以及所述第二反射板之间。

进一步地，所述第二反射室包括第三反射板以及第四反射板，所述固定件与所述第四反射板连接连接，所述第三反射板以及所述第四反射板间隔布置，围合形成所述第二反射室。

进一步地，所述第三反射板以及所述第四反射板竖直布置，且正对布置。

进一步地，所述固定件位于所述第四反射板的下端。

进一步地，所述镜件为反射镜或分束镜。