[发明专利]一种显示屏夹层缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种显示屏夹层缺陷检测方法，其特征在于，包括步骤：

在一个周期内将相位不同的N幅光栅条纹投影至参考平面，采集具有对应相位的N幅参考条纹图，根据所述N幅参考条纹图获得参考平面相位图；

将具有透明夹层的显示屏置于参考平面，在一个周期内将所述相位不同的N幅光栅条纹投影至所述显示屏，采集具有对应相位的N幅检测条纹图，根据所述N幅检测条纹图获得检测平面相位图；

将所述检测平面相位图与参考平面相位图相减获得相位差图像，根据相位差图像和实际高度的对应关系获取缺陷区域对应的漫反射台阶，依据所述漫反射台阶的高度和所述漫反射台阶的位置，确定所述缺陷区域在显示屏夹层中位置信息；

其中，N为≥3的整数。

2.根据权利要求1所述的显示屏夹层缺陷检测方法，其特征在于，所述根据相位差图像和实际高度的对应关系获取所述缺陷区域在参考平面的高度分布，从而获取所述缺陷区域在显示屏夹层中位置信息包括：

获取相位差和高度差的映射关系，根据所述映射关系计算相位差图像上中所有像素点对应缺陷区域的高度分布三维坐标，从而获取所述缺陷区域在显示屏夹层中的位置信息。

3.根据权利要求1所述的显示屏夹层缺陷检测方法，其特征在于，所述光栅条纹投影序列符合正弦或余弦分布。

4.根据权利要求1所述的显示屏夹层缺陷检测方法，其特征在于，

所述在一个周期内将相位不同的N幅光栅条纹投影至参考平面包括：对所述光栅条纹进行N步相移并投影至参考平面，依次生成对应参考条纹图，N幅参考条纹图之间的相位差相同；

所述在一个周期内将所述相位不同的N幅光栅条纹投影至所述显示屏包括：对所述光栅条纹进行N步相移并投影至显示屏，依次生成对应检测条纹图，N幅检测条纹图之间的相位差相同。

5.根据权利要求1所述的显示屏夹层缺陷检测方法，其特征在于，

所述采集具有对应相位的N幅参考条纹图包括：对所述参考条纹图进行曝光值调整和畸变矫正成像；

所述采集具有对应相位的N幅检测条纹图包括：对所述检测条纹图进行曝光值调整和畸变矫正成像；

其中，所述畸变矫正包括根据原始的参考条纹图和检测条纹图与标准正弦或余弦序列分布的偏差改变投影光源的光强分布，以使所述参考条纹图和检测条纹图中的条纹序列呈正弦周期或余弦周期分布。

6.根据权利要求1所述的显示屏夹层缺陷检测方法，其特征在于，

所述根据所述N幅参考条纹图获得参考平面相位图包括：在所述N幅参考条纹图中提取同一像素位置对应的N个灰度值，计算该像素位置对应的相位值以获取参考平面相位图；

所述根据所述N幅检测条纹图获得检测平面相位图包括：在所述N幅检测条纹图中提取同一像素位置对应的N个灰度值，计算该像素位置对应的相位值以获取检测平面相位图。

7.一种显示屏夹层缺陷检测系统，其特征在于，包括：

智能控制单元，用于生成一个周期内空间频率可变、相位不同分布的条纹投影图案，并输入至结构光源单元；

结构光源单元，其包括发光面阵，用于接受所述条纹投影图案并通过所述发光面阵显示输出对应的光栅条纹；

成像模组单元，用于采集N幅参考条纹图和检测条纹图；

图像处理单元，用于根据所述N幅参考条纹图获得参考平面相位图，根据所述N幅检测条纹图获得检测平面相位图，将所述检测平面相位图与参考平面相位图相减获得相位差图像，并根据相位差图像和实际高度的对应关系获取缺陷区域对应的漫反射台阶，依据所述漫反射台阶的高度和所述漫反射台阶的位置，确定所述缺陷区域在显示屏夹层中位置信息；

标准高度量块，用于建立相位差图像和实际高度的对应关系。

8.根据权利要求7所述的显示屏夹层缺陷检测系统，其特征在于，

所述图像处理单元获取相位差和高度差的映射关系，根据所述映射关系计算相位差图像上中所有像素点对应缺陷区域的高度分布三维坐标，从而获取所述缺陷区域在显示屏夹层中的位置信息；

所述标准高度量块建立相位差和高度差的映射关系。