[发明专利]通止规及其控制电路

说明书

本公开是关于一种通止规及其控制电路，所述通止规包括：支架、通规和止规，所述通规设于所述支架，所述通规具有第一测量部，所述第一测量部能够相对于所述支架运动；所述止规设于所述支架，所述止规具有第二测量部，所述第二测量部和所述第一测量部位于所述支架的同侧，所述第二测量部能够相对于所述支架运动。通规的第一测量部和止规的第二测量部位于支架的同侧，并且第一测量部和第二测量部能够相对于支架运动，因此在检测时可以实现通规和止规同时测量待检测孔，操作方便，并且减少了检测时间，有利于提升检测效率。

技术领域

本公开涉及电子设备技术领域，具体而言，涉及一种通止规及其控制电路。

背景技术

在手机等电子设备的制造中，为了保证产品的性能，往往对各个零部件的尺寸具有较高的要求。在各零部件装配前需要对其尺寸精度进行检测。比如，需要对电子设备零部件上的孔进行检测。

目前，可以通过通止规检测孔的尺寸精度，常用的通止规包括通规、止规和连杆，通规位于连杆的一端，止规位于连杆的另一端。检测时，分别通过通规和止规检测孔是否合格。分别通过通规和止规检测孔的精度，操作繁复且检测耗时长。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种通止规及其控制电路，进而至少在一定程度上克服分别通过通规和止规检测孔的精度，而导致的操作繁复且检测耗时长的问题。

根据本公开的一个方面，提供一种通止规，所述通止规包括：

支架；

通规，所述通规设于所述支架，所述通规具有第一测量部，所述第一测量能够相对于所述支架运动；

止规，所述止规设于所述支架，所述止规具有第二测量部，所述第二测量部和所述第一测量部位于所述支架的同侧，所述第二测量部能够相对于所述支架运动。

根据本公开的另一个方面，提供一种通止规控制电路，所述通止规控制电路包括：

电源；

第一开关单元，所述第一开关单元的第一端和所述电源连接；

通规触发单元；

通规指示器，所述通规指示器和所述通规触发单元连接，形成通规支路，所述通规支路连接于所述第一开关单元的第二端和所述电源的第二端之间；

止规触发单元；

止规指示器，所述止规指示器和所述止规触发单元连接，形成止规支路，所述止规支路连接于所述第一开关单元的第二端和所述电源的第二端之间。

本公开实施例提供的通止规，通规的第一测量部和止规的第二测量部位于支架的同侧，并且第一测量部和第二测量部能够相对于支架运动，因此在检测时可以实现通规和止规同时测量待检测孔，操作方便，并且减少了检测时间，有利于提升检测效率。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开示例性实施例提供的一种通止规的结构示意图；

图2为本公开示例性实施例提供的一种通止规的立体结构示意图；

图3为本公开示例性实施例提供的一种支撑框的结构示意图；