[发明专利]图像锐化方法和装置在审

专利信息
申请号: 202010347188.2 申请日: 2020-04-27
公开(公告)号: CN113643190A 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 成超;蔡媛;樊鸿飞;汪贤;鲁方波 申请(专利权)人: 北京金山云网络技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 张萌
地址: 100000 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像 锐化 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像锐化方法,其特征在于,包括:

获取目标图像的锐化残差图;

针对所述锐化残差图中的每个第一位置,均将所述第一位置的第一像素残差值平滑处理为第二像素残差值,其中,所述第二像素残差值根据所述第一像素残差值和所述锐化残差图中与所述第一位置对应的第二位置的第三像素残差值确定,所述第一位置为所述锐化残差图中的任意位置,所述第二位置基于所述第一位置和所述目标图像中与所述第一位置对应的第三位置的像素变化梯度索引得到,所述锐化残差图的第一位置与所述目标图像的第三位置一一对应;

针对所述目标图像中的每个所述第三位置,均将所述第三位置的第一像素值锐化为第二像素值,所述第二像素值为所述第一像素值与所述第二像素残差值的和。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,针对所述锐化残差图中的每个第一位置,均将所述第一位置的第一像素残差值平滑处理为第二像素残差值的步骤,包括:

将所述锐化残差图中的每个第一位置的第一像素残差值与平滑因子乘积得到第一平滑像素残差值;

将与每个所述第一位置对应的第二位置的第三像素残差值与归一化平滑因子乘积得到第二平滑像素残差值;

将所述第一平滑像素残差值与所述第二平滑像素残差值加和,得到所述第一位置的第二像素残差值。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述平滑因子用于收窄边缘的像素值范围,所述边缘根据像素值变化进行确定。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

将所述第一位置的坐标值与所述目标图像中第三位置的像素变化梯度值进行加和,索引得到所述第二位置的坐标值。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,将所述第一位置的坐标值与所述目标图像中第三位置的像素变化梯度值进行加和,索引得到所述第二位置的坐标值的步骤,包括:

根据所述目标图像中第三位置的像素值,分别计算所述第三位置在横向和纵向上的像素变化梯度值;

将所述第一位置的横向坐标值与所述第三位置的横向像素变化梯度值相加,作为索引得到所述第二位置的横坐标;

将所述第一位置的纵向坐标值与所述第三位置的纵向像素变化梯度值相加,作为索引得到所述第二位置的纵坐标。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取目标图像的锐化残差图的步骤,包括:

对所述目标图像进行模糊处理,得到模糊图像;

将所述目标图像与所述模糊图像进行差值计算,得到残差图;

按照锐化因子对所述残差图中的像素残差值进行放大,得到锐化残差图。

7.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述平滑因子的取值小于1。

8.一种图像锐化装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于获取目标图像的锐化残差图;

平滑模块,用于针对所述锐化残差图中的每个第一位置,均将所述第一位置的第一像素残差值平滑处理为第二像素残差值,其中,所述第二像素残差值根据所述第一像素残差值和所述锐化残差图中与所述第一位置对应的第二位置的第三像素残差值确定,所述第一位置为所述锐化残差图中的任意位置,所述第二位置基于所述第一位置和所述目标图像中与所述第一位置对应的第三位置的像素变化梯度索引得到,所述锐化残差图的第一位置与所述目标图像的第三位置一一对应;

锐化模块,用于针对所述目标图像中的每个所述第三位置,均将所述第三位置的第一像素值锐化为第二像素值,所述第二像素值为所述第一像素值与所述第二像素残差值的和。

9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并且能够在所述处理器上运行的程序,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的图像锐化方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时实现权利要求1-7中任意一项所述的图像锐化方法。

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