[发明专利]基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法、装置及设备

权利要求书

1.一种基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，包括：

获取航天器的三维模型；

根据预设分辨率确定所述三维模型中以目标器件为中心发射的射线矢量；

基于屏蔽分析实体相交法和所述三维模型中的屏蔽零件的材料密度，计算各所述射线矢量的总等效铝屏蔽厚度；

根据所述总等效铝屏蔽厚度及预设的效应深度曲线确定各所述射线矢量的辐射效应值；

根据各所述射线矢量的辐射效应值得到所述航天器目标器件各射线矢量的辐射效应。

2.根据权利要求1所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，所述获取航天器的三维模型，包括：

基于OCC获取所述航天器的三维模型文件；

对所述三维模型文件中的信息进行提取；

将提取出的三维模型信息进行转换，得到可识别的三维数据。

3.根据权利要求2所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，还包括：将所述三维数据进行分类存储。

4.根据权利要求1所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，所述根据预设分辨率确定所述三维模型中以目标器件为中心发射的射线矢量，包括：

获取所述预设分辨率；

根据所述预设分辨率确定所述射线的条数；

基于mesh算法对所述三维模型进行划分，得到多个正三角形分布阵列；

将所述目标器件作为起点，所述正三角形的顶点作为射线经过的点，得到多条射线矢量。

5.根据权利要求1所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，所述根据所述总等效铝屏蔽厚度及预设的效应深度曲线确定各所述射线矢量的辐射效应值，包括：

获取预设的效应深度曲线；

将各所述射线矢量的总等效铝屏蔽厚度与所述效应深度曲线进行比对，得到所述总等效铝屏蔽厚度对应的辐射效应值。

6.根据权利要求1所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，所述基于屏蔽分析实体相交法和所述三维模型中的屏蔽零件的材料密度，计算各所述射线矢量的等效铝屏蔽厚度，包括：

对所述三维模型中的屏蔽零件与所述射线矢量进行实体相交计算，得到所述屏蔽零件的屏蔽厚度；

根据所述屏蔽零件的屏蔽厚度和所述屏蔽零件的材料密度，得到各所述屏蔽零件的等效铝屏蔽厚度；

根据同一所述射线矢量上的各所述屏蔽零件的等效铝屏蔽厚度，得到所述射线矢量上的总等效铝屏蔽厚度。

7.根据权利要求6所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，所述对所述三维模型中的屏蔽零件与所述射线矢量进行实体相交计算之前，还包括：

对所述三维模型进行过滤，以确定参与计算的所述屏蔽零件。

8.根据权利要求6所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法，其特征在于，还包括：

将各所述射线矢量上的总等效铝屏蔽厚度以色温图的形式进行显示，并计算同一射线矢量上各所述屏蔽零件的等效铝屏蔽厚度所占的百分比。

9.一种基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取航天器的三维模型；

第一确定模块，用于根据预设分辨率确定所述三维模型中以目标器件为中心发射的射线矢量；

计算模块，用于基于屏蔽分析实体相交法和所述三维模型中的屏蔽零件的材料密度，计算各所述射线矢量的总等效铝屏蔽厚度；

第二确定模块，用于根据所述总等效铝屏蔽厚度及预设的效应深度曲线确定各所述射线矢量的辐射效应值；

辐射效应计算模块，用于根据各所述射线矢量的辐射效应值得到所述航天器目标器件各射线矢量的辐射效应。

10.一种基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算设备，其特征在于，包括：

处理器，以及与所述处理器相连接的存储器；

所述存储器用于存储计算机程序；

所述处理器用于调用并执行所述存储器中的所述计算机程序，以执行如权利要求1-8任一项所述的基于航天器三维屏蔽的辐射效应计算方法。