[发明专利]存储器测试电路、测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种存储器测试电路，其特征在于，包括：主控芯片、被配置处理芯片，其中，

所述被配置处理芯片，用于上电后从被测存储器加载所需的配置信息，并在利用所述配置信息进行配置后输出预设信息，所述预设信息用于表征所述被配置处理芯片是否成功配置所述配置信息；

所述主控芯片，用于根据上位机下发的测试指令，从所述被测存储器内部获取所述配置信息，并从所述被配置处理芯片获取所述预设信息，将所述配置信息及所述预设信息反馈给所述上位机，以使所述上位机根据所述配置信息及所述预设信息，对所述被测存储器的上电加载功能进行判断，输出判断结果；

还包括通道选择器；

所述主控芯片与所述通道选择器的通道使能端连接，用于向所述通道选择器发送通道选择控制指令，以选通第一通道或第二通道进行传输；

所述被配置处理芯片，用于在所述第一通道被选通的情况下，通过所述第一通道从被测存储器加载所述配置信息；

所述主控芯片，用于在所述第二通道被选通的情况下，通过所述第二通道从所述被测存储器内部获取所述配置信息；

所述预设信息为所述被配置处理芯片内部的状态机跳转信息和/或变量数值信息。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述主控芯片设置在测试底板上，所述测试底板上还设置有被配置芯片子板；

所述被配置处理芯片通过可拆卸的方式设置在所述被配置芯片子板上。

3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述主控芯片设置在测试底板上，所述测试底板上还设置有被配置芯片子板及存储器子板；

所述被配置处理芯片通过可拆卸的方式设置在所述被配置芯片子板上；

所述被测存储器通过可拆卸的方式设置在所述存储器子板上。

4.如权利要求1所述的测试电路 ，其特征在于，所述被测存储器为PROM；所述被配置处理芯片为FPGA，所述主控芯片为FPGA。

5.一种存储器测试系统，其特征在于，包括：

上位机、直流电源及如权利要求1-4任一项所述的测试电路，其中，

所述直流电源，用于在所述上位机的控制下，对所述被测存储器及所述测试电路进行上电或下电；

所述上位机，用于向所述直流电源下发电源控制指令以控制所述直流电源的通断，还用于向所述主控芯片下发所述测试指令以使所述主控芯片反馈所述配置信息及所述预设信息，并根据所述配置信息及所述预设信息，对所述被测存储器的上电加载功能进行判断，输出所述判断结果。

6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述上位机通过网口及串口分别与所述主控芯片连接。

7.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，还包括远程计算设备，所述远程计算设备通过网线与所述上位机连接，用于向所述上位机下发所述电源控制指令、所述测试指令，并接收所述上位机输出的所述判断结果；

其中，所述被测存储器处于辐射环境中。

8.一种存储器测试方法，其特征在于，应用于权利要求5-7任一项所述的测试系统中，所述测试方法包括：

将所述被测存储器置于辐射环境中；

控制所述直流电源对所述被测存储器及所述测试电路上电，其中，当所述直流电源对所述被测存储器及所述测试电路上电后，所述被配置处理芯片从被测存储器加载所述配置信息，并利用所述配置信息进行配置后输出所述预设信息；

获取所述预设信息及所述被测存储器内部的所述配置信息；

根据所述配置信息及所述预设信息，判断所述被测存储器的上电加载功能是否正确，并输出所述判断结果。