[发明专利]触控模组评估方法及装置、电子设备及存储介质

说明书

本公开涉及触控技术领域，尤其涉及一种触控模组评估方法及装置、电子设备及存储介质。该触控模组评估方法包括：接收待评估触控模组的单元图，并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算，得到所述待评估触控模组的效果图；对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估，以确定所述待评估触控模组的光学评估值；获取所述待评估触控模组的电学参数，并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值；基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。本公开可以缩短触控屏的开发周期以及降低开发成本。

技术领域

本公开涉及触控技术领域，尤其涉及一种触控模组评估方法、触控模组评估装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着显示技术的飞速发展，触摸屏(Touch Screen Panel)已经逐渐遍及人们的生活中。简而言之，触控屏即集成有触控模组的显示面板；根据集成方式的不同，触摸屏包括如外挂式触摸屏、覆盖表面式触摸屏(On Cell)以及内嵌式触摸屏(In Cell)等。

现在技术中，在将触控模组和显示面板结合之后，不同的触控模组(如图案不同、材质不同、结构不同等)可能会对显示效果造成不同的影响；例如，产生暗态下的点状、线状及块状mura(不良)或者亮态下不同方位角的亮度衰减差异等。如果在触控屏制备完成后再进行检测，则整体开发周期会较长，而且开发成本也较高。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种触控模组评估方法、触控模组评估装置、电子设备及计算机可读存储介质，以至少在一定程度上缩短触控屏的开发周期以及降低开发成本。

根据本公开的一个方面，提供一种触控模组评估方法，包括：

接收待评估触控模组的单元图，并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算，得到所述待评估触控模组的效果图；

对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估，以确定所述待评估触控模组的光学评估值；

获取所述待评估触控模组的电学参数，并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值；

基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。

在本公开的一种示例性实施例中，所述得到所述待评估触控模组的效果图，还包括：

将所述待评估触控模组的单元图调整至目标尺寸比例以及目标灰阶，得到第一处理结果图。

对所述第一处理结果图进行滤波处理，得到所述待评估触控模组的效果图。

在本公开的一种示例性实施例中，所述确定所述待评估触控模组的光学评估值，还包括：

根据所述待评估触控模组的效果图中各像素的亮度值，确定所述光学评估值。

在本公开的一种示例性实施例中，所述确定所述亮度评估值，包括：

获取所述待评估触控模组的效果图中所有像素亮度的平均值；

将所述待评估触控模组的效果图中亮度低于所述平均值的像素，确定为目标像素；

计算各所述目标像素的亮度与所述平均值的差值之和，并根据所述差值之和确定所述待评估触控模组的光学评估值。

在本公开的一种示例性实施例中，所述确定所述待评估触控模组的电学评估值，包括：

结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图，计算所述待评估触控模组的寄生电容以及电阻值；