[发明专利]一种调整介质承载组件的方法和装置

权利要求书

1.一种调整介质承载组件的方法，其特征在于，所述的方法包括：

当接收到介质收纳指令时，统计收纳至预设介质承载组件上的收纳介质的收纳张数；

从预设存储器读取存储介质的存储张数；所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数；

当所述介质承载组件满足预设下移条件时，采用所述收纳张数和所述存储张数，计算所述介质承载组件上的介质总张数；

根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长；

按照所述下移时长控制所述介质承载组件下移；

所述根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长的步骤，包括：

根据所述介质总张数和所述介质承载组件的下移时长的对应关系，确定所述介质总张数对应的所述介质承载组件的下移时长。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长的步骤，包括：

获取预设的空载耗时；

采用所述空载耗时和所述介质总张数计算所述介质承载组件的下移时长。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述的方法还包括：

将所述介质总张数保存至所述存储器中。

4.一种调整介质承载组件的装置，其特征在于，所述的装置包括：

收纳张数统计模块，用于当接收到介质收纳指令时，统计收纳至预设介质承载组件上的收纳介质的收纳张数；

存储张数读取模块，用于从预设存储器读取存储介质的存储张数；所述存储张数为接收到所述介质收纳指令前所述介质承载组件上的介质张数；

介质总张数计算模块，用于当所述介质承载组件满足预设下移条件时，采用所述收纳张数和所述存储张数，计算所述介质承载组件上的介质总张数；

下移时长确定模块，用于根据所述介质总张数确定所述介质承载组件的下移时长；

下移控制模块，用于按照所述下移时长控制所述介质承载组件下移；

所述下移时长确定模块，包括：

下移时长确定子模块，用于根据所述介质总张数和所述介质承载组件的下移时长的对应关系，确定所述介质总张数对应的所述介质承载组件的下移时长。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述下移时长确定模块，包括：

空载耗时获取子模块，用于获取预设的空载耗时；

下移时长计算子模块，用于采用所述空载耗时和所述介质总张数计算所述介质承载组件的下移时长。

6.根据权利要求4或5所述的装置，其特征在于，所述的装置还包括：

保存模块，用于将所述介质总张数保存至所述存储器中。

7.一种电子设备，包括存储器及处理器，所述存储器中储存有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-3中任一项所述的调整介质承载组件的方法的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-3任一项所述的调整介质承载组件的方法。