[发明专利]一种辐射防护门屏蔽性能检测方法及系统

权利要求书

1.一种辐射防护门屏蔽性能检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)通过辐射发射器发射辐射对辐射防护门进行辐射测试；

(2)通过辐射检测器检测透过辐射防护门的辐射强度；

(3)计算辐射传递系数；

(4)统计相关辐射数据；

(5)根据辐射数据对辐射防护门屏蔽性能进行评估。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)中所述辐射强度检测方法具体包括：通过辐射检测器选择要测量的空间辐射点，测量所述空间辐射点的辐射强度记为A，并以所述空间辐射点为圆心建立三维空间坐标：

a)以M₁(0,Y,0)、M₂(X,0,0)、M₃(0,-Y,0)、M₄(-X,0,0)、M₅(0,0,Z)、M₆(0,0,-Z)建立第一批测量点进行测量并记录，8≤X＝Y＝Z≤10mm；

b)以N₁(-X/2,Y/2,Z/2)、N₂(-X/2,Y/2,-Z/2)、N₃(X/2,Y/2,Z/2)、N₄(X/2,-Y/2,-Z/2)、N₅(-X/2,-Y/2,Z/2)、N₆(-X/2,-Y/2,-Z/2)、N₇(X/2,-Y/2,Z/2)、N₈(X/2,-Y/2,-Z/2)建立第二批测量点进行测量并记录；

c)以第一批测量点中任意一一点和第二批测量点中任意一点连线的中点建立第三批测量点P₁、P₂……P₄₈进行测量并记录；

d)计算第一批的均值B、第二批的均值C以及第三批的标准差σ，最终辐射强度D的计算公式为：

式中，M₁-M₆、N₁-N₈、P₁-P₄₈为各测量点的辐射强度；E＝3.47。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(3)中所述辐射传递系数计算方法具体包括：

3.1将系统面元分为灰体面元和非灰体面元两种类型，对每个面元生成射向半空间的初始发射辐射光线集，并记录相关的初始化信息；

3.2对每个面元的初始发射辐射光线集的发射辐射光线进行辐射光线追踪，判断每个发射辐射光线经直射或反射到达其他面元的落点；

3.3根据落点所在的面元的类型分析发射辐射光线由落点所在的面元直接反射到其他面元的能量，直至发射辐射光线被完全吸收或射向外部空间；

3.4基于步骤3.3的分析结果，遍历系统中所有的面元，计算每个面元到其他面元的辐射传递系数，其中面元i到面元j的辐射传递系数D_ij为：

式中，E_i是面元i的初始发射辐射光线集的辐射总能量，E_{ij_1}是面元i的发射辐射光线直接到达面元j后被吸收的能量，E_{ij_2}是面元i的发射辐射光线经其他面元一次反射到达面元j后被吸收的能量，E_{ij_d}是面元i的发射辐射光线经其他面元d-1次反射到达面元j后被吸收的能量。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤3.1中具体包括利用蒙特卡洛法生成射向半空间的初始发射辐射光线集；所述初始化信息包括初始发射辐射光线集的辐射总能量和发射辐射光线总数，以及每个发射辐射光线的发射方向、携带的能量及与其它面元的相交情况；根据Steven-Blotzmann定律计算初始发射辐射光线集的辐射总能量。