[发明专利]用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试方法

说明书

本发明公开了一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试方法，用已检定过的磁场强度测试仪对传感器测试座在亥姆霍兹线圈中固定位置的磁场强度H与线圈输入电流I的关系进行标定；将标定好的数组输入到IC测试仪中；用IC测试仪控制步进电机，从而控制传感器测试座进入亥姆霍兹线圈中的固定位置；当传感器测试座进入到亥姆霍兹线圈中的固定位置后，IC测试仪开始对亥姆霍兹线圈施加电流I,进而控制磁场强度H；IC测试仪在控制磁场强度H的同时，通过连接线接头对安装在传感器测试座上的器件进行测试。本发明的一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置能够搭载在IC测试仪上对霍尔传感器进行检测，实现相关的测试。

技术领域

本发明涉及数字电路测试装置，更具体地说，它涉及一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试方法。

背景技术

集成电路产业飞速发展，集成电路种类越来越多，而数字集成电路在其中占据了很大的份额，数字集成电路功能繁多，速度千差万别，数字集成电离产业的发展为我们追求的数字化生活奠定了坚实的基础，大量的芯片被生产出来，由于芯片在设计制造封装使用过程中都有可能出现故障，因此需要对其进行测试，数字集成电路测试包含功能测试、直流参数测试和交流参数测试，其传统的数字集成电路测试仪包含测量矢量存储器、读测试矢量模块、格式化编码模块、输入电平转换模块、程控电源模块、输出电平转换模块，采集测试结果与判断模块、写结果矢量模块以及结果存储器。

但是，目前的IC测试仪不具备测试霍尔传感器测试的能力，而霍尔传感器测试通常是采用手动控制磁铁的远近来控制被测产品处的磁场分布，自动化程度不高，测试效率低。

因此需要提出一种新的方案来解决这个问题。

发明内容

针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置，可以方便搭载在IC测试仪上对霍尔传感器进行测试，方便安装，测试效率高。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试方法，采用一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试装置进行作业，一种用于搭载IC测试仪的霍尔传感器测试包括基座，在基座上安装有用于产生固定磁场的磁场机构，所述基座上还设置有用于安置待测产品的传感器检测机构，所述传感器检测机构连接有驱动装置用于驱动待测产品进出磁场机构，所述磁场机构、传感器检测机构以及驱动装置均设置有用于连接到IC测试仪的线圈接头。

具体测试方法如下：

1、用已检定过的磁场强度测试仪对传感器测试座在亥姆霍兹线圈中固定位置的磁场强度H与线圈输入电流I的关系进行标定；

2、将标定好的数组输入到IC测试仪中；

3、用IC测试仪控制步进电机，步进电机控制滑块离开初始位置向前滑动，从而控制传感器测试座进入亥姆霍兹线圈中的固定位置；

4、当传感器测试座进入到亥姆霍兹线圈中的固定位置后，IC测试仪开始对亥姆霍兹线圈施加电流I,进而控制磁场强度H；

5、IC测试仪在控制磁场强度H的同时，通过连接线接头对安装在传感器测试座上的器件进行测试；

6、测试完成后用IC测试仪控制步进电机，步进电机控制滑块向后滑动，从而控制传感器测试座离开亥姆霍兹线圈中的固定位置，回到初始位置。

本发明进一步设置为：所述磁场机构设置为亥姆霍兹线圈。

本发明进一步设置为：所述基座上设置有滑轨，所述传感器检测机构安装在滑轨上。

本发明进一步设置为：所述滑轨上安装有用于限制传感器检测机构行程的限位机构。

本发明进一步设置为：所述驱动装置包括步进电机，所述步进电机用于驱动传感器检测机构沿滑轨前后移动。