[发明专利]一种平板型荧光太阳集光器的测试装置及其集光效率和光增益系数测试方法有效

专利信息
申请号: 202010360213.0 申请日: 2020-04-30
公开(公告)号: CN111537199B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 张晓伟;顾港伟;朱家润;李燕;张会红;张鑫;陈王华 申请(专利权)人: 宁波大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 宁波奥圣专利代理有限公司 33226 代理人: 何仲
地址: 315211 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 平板 荧光 太阳 集光器 测试 装置 及其 效率 增益 系数 方法
【权利要求书】:

1.一种平板型荧光太阳集光器的测试装置,其特征在于包括用于提供光源的太阳光模拟器、用于放置平板型荧光太阳集光器样品的样品台、用于接收所述的平板型荧光太阳集光器样品侧面出光的积分球、用于产生单色光的单色仪、用于测量特定波段光子功率的光功率测试仪、用于测量光致发光强度的光电探测器和用于控制所述的单色仪转动使其轴向出光或侧向出光的控制主机;所述的太阳光模拟器和所述的样品台位于暗室内,所述的太阳光模拟器将模拟的太阳光照射到所述的样品台上待测平板型荧光太阳集光器样品的上表面,所述的平板型荧光太阳集光器样品侧面通过不透光的橡胶密封圈与所述的积分球的进光口相连,所述的积分球的出光口通过光纤与所述的单色仪的进光口相连,所述的单色仪的出光口通过第一滤波片与所述的光电探测器连接,所述的单色仪的另一出光口通过第二滤波片与所述的光功率测试仪连接,所述的单色仪、所述的光功率测试仪和所述的光电探测器分别与所述的控制主机的输入端连接,所述的控制主机的输出端连接计算机显示器。

2.根据权利要求1所述的一种平板型荧光太阳集光器的测试装置,其特征在于:所述的单色仪的轴向出光口通过第一滤波片与所述的光电探测器连接,同时所述的单色仪的侧向出光口通过第二滤波片与所述的光功率测试仪连接。

3.根据权利要求1所述的一种平板型荧光太阳集光器的测试装置,其特征在于:所述的单色仪的侧向出光口通过第一滤波片与所述的光电探测器连接,同时所述的单色仪的轴向出光口通过第二滤波片与所述的光功率测试仪连接。

4.根据权利要求2或3所述的一种平板型荧光太阳集光器的测试装置,其特征在于:所述的第一滤波片和所述的第二滤波片均采用高通滤波片。

5.根据权利要求4所述的一种平板型荧光太阳集光器的测试装置,其特征在于:所述的单色仪采用双光栅单色仪。

6.根据权利要求4所述的一种平板型荧光太阳集光器的测试装置,其特征在于:所述的太阳光模拟器为标准的AM1.5太阳光模拟器。

7.一种利用权利要求1-6中任一项所述的测试装置的平板型荧光太阳集光器的集光效率和光增益系数测试方法,其特征在于包括以下步骤:

(1)将未掺杂发光中心材料的平板型聚合物波导的标准样品放置在样品台上,将标准样品通过不透光的橡胶密封圈连接至积分球的进光口,打开太阳光模拟器,等待太阳光模拟器中的光源稳定后,打开光功率测试仪,测试背景噪声光功率,记为;

(2)将标准样品取下,放入掺杂发光中心材料的平板型荧光太阳集光器待测样品,将待测样品通过不透光的橡胶密封圈连接至积分球的进光口,利用控制主机控制单色仪的光栅转动使其轴向或侧向出光,光经过第一滤波片后进入光电探测器,利用控制主机设置光电探测器的入射光窄缝为2-30nm、积分时间为0.1-10s,在计算机显示器显示经归一化后的光致发光谱,光致发光谱中心波长为;利用控制主机控制单色仪的光栅转动使得侧向或轴向出光,光经过第二滤波片后进入光功率测试仪,设置光功率测试仪的探测波长为,记录该波长下光功率测试仪读数;

(3)计算集光效率和光增益系数C

,;

其中是经归一化后的光致发光谱,为背景噪声光功率,为波长为时的光功率测试仪的读数,G为平板型荧光太阳集光器的几何因子,即,其中平板型荧光太阳集光器的长宽高相应为。

8.根据权利要求7所述的一种平板型荧光太阳集光器的集光效率和光增益系数测试方法,其特征在于:所述的积分球通过其进光口从所述的平板型荧光太阳集光器样品侧面接收光,并使光在所述的积分球内部经过多次全反射后在积分球的出光口射出;所述的单色仪将积分球出光口出射的复色光经过光栅单色仪后转换为单色光。

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