[发明专利]伽马电压调试方法和伽马电压调试装置

说明书

本发明提供一种伽马电压调试方法和伽马电压调试装置，应用于包括第一显示区和第二显示区的显示装置，第一显示区的分辨率高于第二显示区的分辨率，所述方法包括：对第一显示区各绑点的电压进行调试；确定模拟区，模拟区位于第一显示区内，模拟区中的部分像素作为测试像素，测试像素的排布方式与第二显示区内的像素的排布方式相同；向第一显示区输入第一绑点电压，并调试模拟区的第一绑点电压，得到模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。根据本发明实施例的伽马电压调试方法，可以解决某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备不能直接进行亮度调试的问题，从而确保了显示装置的所有显示区域画面显示的一致性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种伽马电压调试方法和伽马电压调试装置。

背景技术

为了实现AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体))显示面板的全面屏显示，同时保持前置摄像头的设计，由于现在的高分辨的显示区域的透过率不能满足摄像头对于透过率的需求，因此，目前采用的解决方案是将前置摄像头对应的显示区域降低分辨率，以提升该区域的透过率，即屏下摄像头方案。

在实现屏下摄像头设计后，由于摄像头对应的低分辨率区域的尺寸过小，以至于无法利用调试设备对该区域直接进行亮度等的调试。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种伽马电压调试方法和伽马电压调试装置，能够解决现有技术中由于某一分辨率对应的区域过小而导致测试设备无法直接进行亮度等参数的调试的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用以下技术方案：

本发明一方面实施例提供一种伽马电压调试方法，应用于显示装置，所述显示装置的显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的分辨率高于所述第二显示区的分辨率，其特征在于，所述方法包括：

对第一显示区各绑点的电压进行调试，得到第一显示区的亮度与调试后得到的第一绑点电压的第一对应关系；

确定模拟区，所述模拟区位于所述第一显示区内，所述模拟区中的部分像素作为测试像素，所述测试像素的排布方式与所述第二显示区内的像素的排布方式相同，使所述模拟区和所述第二显示区的分辨率相同；

向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，所述向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系，包括：

向所述模拟区内的测试像素以及所述第一显示区除所述模拟区之外的其他区域内的像素输入所述第一绑点电压；

调试所述模拟区的第一绑点电压，使所述模拟区的亮度和所述第一显示区除模拟区之外的其他区域的亮度相同，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系。

可选的，所述向第一显示区输入所述第一绑点电压，并调试所述模拟区的第一绑点电压，得到所述模拟区的亮度与调试后得到的第二绑点电压的第二对应关系之后，还包括：

根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正；

根据修正后的第二绑点电压，更新所述第二对应关系。

可选的，所述根据所述模拟区的负载和所述第二显示区的负载，对所述第二绑点电压进行修正的步骤中，采用以下公式进行修正：