[发明专利]试样解析系统、试样解析装置以及试样解析方法

权利要求书

1.一种试样解析系统，具备：

X射线衍射装置；以及

解析装置，其构成为基于由所述X射线衍射装置测定出的衍射X射线来进行试样的定性分析，

其中，所述解析装置包括：

第一存储部，其存储预先被制作成数据库的多个物质的信息；

第二存储部，其存储规定的类型中包括的多个关联物质的名称；以及

处理装置，其构成为：从存储在所述第一存储部中的多个物质的信息中提取具有存储在所述第二存储部中的关联物质的名称的物质的信息，通过将所述X射线衍射装置的测定结果与被提取的该物质的信息进行对照，来进行所述试样的定性分析。

2.根据权利要求1所述的试样解析系统，其特征在于，

所述类型是石棉关联物质；

所述第二存储部存储被分类为石棉的物质的名称。

3.根据权利要求1所述的试样解析系统，其特征在于，

所述类型是粘土矿物，

所述第二存储部存储被分类为粘土矿物的物质的名称。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的试样解析系统，其特征在于，

所述处理装置构成为：向利用者通知所述第二存储部中存储的多个关联物质的名称，从存储在所述第一存储部中的多个物质的信息中提取具有由利用者选择出的关联物质的名称的物质的信息。

5.根据权利要求1至3中的任一项所述的试样解析系统，其特征在于，

所述处理装置按照利用者的要求，使所述类型中包括的关联物质的名称追加存储到所述第二存储部中。

6.一种试样解析装置，构成为基于由X射线衍射装置测定出的衍射X射线来进行试样的定性分析，所述试样解析装置包括：

第一存储部，其存储预先被制作成数据库的多个物质的信息；

第二存储部，其存储规定的类型中包括的多个关联物质的名称；以及

处理装置，其构成为：从存储在所述第一存储部中的多个物质的信息中提取具有存储在所述第二存储部中的关联物质的名称的物质的信息，通过将所述X射线衍射装置的测定结果与被提取的该物质的信息进行对照，来进行所述试样的定性分析。

7.一种试样解析方法，基于由X射线衍射装置测定出的衍射X射线来进行试样的定性分析，所述试样解析方法包括以下步骤：

从预先被制作成数据库的多个物质的信息中提取具有规定的类型中包括的多个关联物质的名称的物质的信息；以及

通过将所述X射线衍射装置的测定结果与被提取的该物质的信息进行对照，来进行所述试样的定性分析。