[发明专利]基于饱和能量非均匀分布的Xe分子探针浓度定量测量方法有效
申请号: | 202010364329.1 | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN111505039B | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 周欣;蒋卫平;娄昕;郭茜旎;孙献平;叶朝辉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 | 代理人: | 王敏锋 |
地址: | 430071 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 饱和 能量 均匀分布 xe 分子 探针 浓度 定量 测量方法 | ||
1.基于饱和能量非均匀分布的Xe分子探针浓度定量测量方法,包括以下步骤:
步骤1,配制已知浓度的Xe分子探针溶液,测量Xe分子探针与Xe的结合常数K;
步骤2,配制待测Xe分子探针溶液,将频率偏置为Δωrf的SEND脉冲序列施加至待测Xe分子探针溶液,采样获得待测Xe分子探针溶液溶解态Xe信号强度S1;
步骤3,将频率偏置为-Δωrf的SEND脉冲序列施加至待测Xe分子探针溶液,采样获得待测Xe分子探针溶液溶解态Xe信号强度S2;
步骤4,根据公式SENDR=S1/S2计算对比效果SENDR;
步骤5,根据以下公式计算待测Xe分子探针溶液中Xe分子探针浓度
待测[Xe分子探针]=(1/K+[Xe])*(1-SENDR(1/N))/2
其中,[Xe]为待测Xe分子探针溶液中溶解态Xe浓度,[Xe]=(Xe分压*Xe溶解度),Xe分压为步骤2和步骤3中使用的混合气体总压力和混合气体中Xe所占比例的乘积,Xe溶解度取决于测试时溶液的温度,通过查表获得;SENDR为对比效果,N为SEND脉冲序列中180°射频脉冲块的重复次数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤1中,Xe分子探针与Xe的结合常数K采用1D Xe NMR谱方法测量,其结合常数K的计算公式为
K=[Xe@分子探针]/(([Xe分子探针]-[Xe@分子探针])*[Xe]y)
其中,[Xe分子探针]为步骤1的溶液中Xe分子探针浓度,[Xe@分子探针]表示与Xe结合的Xe分子探针浓度,[Xe@分子探针]=I1/I2*[Xe]y,I1和I2分别为溶液中与Xe结合的Xe分子探针浓度的积分值和溶解态Xe浓度的积分值,I1和I2的值是分别通过对1D Xe NMR谱中与Xe结合的Xe分子探针信号范围,及溶解态Xe信号范围进行积分获得的;[Xe]y为步骤1中Xe分子探针溶液中溶解态Xe浓度,[Xe]y=(Xe分压*Xe溶解度),Xe分压为步骤1中使用的混合气体总压力和混合气体中Xe所占比例的乘积,Xe溶解度取决于步骤1中溶液的温度,通过查表获得。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤2和步骤3中,所述的SEND脉冲序列包括由180°脉冲和间隔时间t组成的180°射频脉冲块的预处理,和随后的频率偏置为f2的90°bp脉冲,180°射频脉冲块重复N次,所述90°bp脉冲用于激发溶解态Xe信号进行采样检测,其中,180°脉冲为形状脉冲,其频率偏置为f1,步骤2和步骤3中f1分别设置为Δωrf和-Δωrf,Δωrf表示与Xe结合的Xe分子探针信号与溶解态Xe信号之间的频率差,用于实现180°脉冲对与Xe结合的Xe分子探针信号进行选择性操作,-Δωrf表示与Xe结合的Xe分子探针信号相对于溶解态Xe信号对称位置与溶解态Xe信号之间的频率差,用于获得与Xe结合的Xe分子探针信号外干扰因素对溶解态Xe信号的影响,间隔时间t≥3*滞留时间,滞留时间为Xe在Xe分子探针中停留时间,以保证与Xe结合的Xe分子探针信号与溶解态Xe信号进行充分交换。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:S1和S2分别为步骤2和步骤3中180°射频脉冲频率偏置f1设置为Δωrf和-Δωrf时,使用SEND脉冲序列获得的溶解态Xe的信号强度,分别对待测Xe分子探针溶液施加SEND脉冲序列,获得1D Xe NMR谱,对1D Xe NMR谱中溶解态Xe信号范围进行积分,测量并记录待测溶液溶解态Xe信号积分强度。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤4中,若步骤4获得的对比效果SENDR0.95,则增加180°射频脉冲块的重复次数N,若步骤4获得的对比效果SENDR0.05,则减少180°射频脉冲块的重复次数N,然后重复步骤2和步骤3,直至SENDR不大于0.95并不小于0.05。
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