[发明专利]一种电子设备检验方法及装置

权利要求书

1.一种电子设备检验方法，其特征在于，所述方法包括：

获得磁力感应单元的感应输出信号，所述磁力感应单元用于感应所述电子设备的磁性件所发出的磁场信号；

对所述感应输出信号进行分析，获得相应的磁场强度值；

在确定所述磁场强度值满足预设触发条件时，控制触发执行所述电子设备检验工序中位于磁性检验操作后的下一操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

判断所述磁场强度值是否达到设定阈值；

在判定所述磁场强度值达到设定阈值时，确定满足所述预设触发条件；否则，确定不满足所述预设触发条件。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制触发执行电子设备检验工序中位于磁性检验操作后的下一操作，包括：

触发压合热熔装置动作，以执行下压和/或热熔操作、将所述磁性件固定至所述电子设备内预先确定的位置；

对执行下压和/或热熔操作的持续时间进行计时；

在所述持续时间达到设定压合时长时，控制所述压合热熔装置复位。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在确定不满足所述预设触发条件时，控制禁止执行所述电子设备检验工序中位于磁性检验操作后的下一操作。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述控制禁止执行电子设备检验工序中位于磁性检验操作后的下一操作，包括：

控制压合热熔装置失效，所述压合热熔装置用于执行下压和/或热熔操作、将所述磁性件固定于所述电子设备内预先确定的位置；

产生示出所述磁场强度值不满足触发所述下一操作的提示信息。

6.一种电子设备检验装置，其特征在于，所述装置包括：

磁力感应单元，用于感应所述电子设备磁性部件所发出的磁场信号，得到感应输出信号；

信号获取单元，用于获取所述感应输出信号；

磁场分析单元，用于对所述感应输出信号进行分析，获得相应的磁场强度值；

第一控制单元，用于在确定所述磁场强度值满足预设触发条件时，控制触发执行所述电子设备检验工序中位于磁性检验操作后的下一操作。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

触发条件判断单元，用于判断所述磁场强度值是否达到设定阈值；

条件确定单元，用于在判定所述磁场强度值达到设定阈值时，确定满足所述预设触发条件；否则，确定不满足所述预设触发条件。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一控制单元包括：

触发子单元，用于触发压合热熔装置动作，以执行下压和/或热熔操作、将所述磁性件固定至所述电子设备内预先确定的位置；

计时子单元，用于对执行下压和/或热熔操作的持续时间进行计时；

复位子单元，用于在所述持续时间达到设定压合时长时，控制所述压合热熔装置复位。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二控制单元，用于在确定不满足所述预设触发条件时，控制禁止执行所述电子设备检验工序中位于磁性检验操作后的下一操作。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述第二控制模块包括：

禁止子单元，用于控制压合热熔装置失效，所述压合热熔装置用于执行下压和/或热熔操作、将所述磁性件固定于所述电子设备内预先确定的位置；

提醒子单元，用于产生示出所述磁场强度值不满足触发所述下一操作的提示信息。