[发明专利]电容外观的检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种电容外观的检测方法及装置。其中，该方法包括：获取电容的多张图像；对多张图像进行分组，得到多组图像，其中，多组图像中的每一组图像均包括预定数量的图像；对多组图像进行处理，得到多个处理结果；根据多个处理结果判定电容是否为合格产品。本发明解决了关技术中用于对电容进行外观检测的方式不够合理，容易在电容外观检测过程中存在误判，可靠性较低的技术问题。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种电容外观的检测方法及装置。

背景技术

目前，检测电容凹凸的方法是将电容匀速转动，加背光源，相机运动飞拍，采集多张图像，对采集的多张图像进行处理，以对电容外壳进行检测，例如，检测电容外壳上是否存在凹凸。但是，由于电容本身侧面不是一条直线，而且产品转动过程中存在摇摆和中心偏移的现象，导致合格品误判为凹凸的不合格品。

针对上述相关技术中用于对电容进行外观检测的方式不够合理，容易在电容外观检测过程中存在误判，可靠性较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种电容外观的检测方法及装置，以至少解决关技术中用于对电容进行外观检测的方式不够合理，容易在电容外观检测过程中存在误判，可靠性较低的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种电容外观的检测方法，包括：获取电容的多张图像；对所述多张图像进行分组，得到多组图像，其中，所述多组图像中的每一组图像均包括预定数量的图像；对所述多组图像进行处理，得到多个处理结果；根据所述多个处理结果判定所述电容是否为合格产品。

可选地，所述获取电容的多张图像，包括：响应于电容检测指令，触发图像采集设备启动，以采集所述电容的多张图像。

可选地，所述对所述多张图像进行分组，得到多组图像，包括：根据所述多张图像的数量，确定对所述多张图像进行分组时的组数；基于所述多张图像的数量以及所述组数将所述多张图像平均分为所述多组图像。

可选地，所述对所述多组图像进行处理，得到多个处理结果，包括：确定所述多组图像中每一组图像中的第一张图像；对所述每一组图像中的第一张图像进行区域划分，并提取出所述每一组图像中的第一张图像的图像区域对应的图像顶部区域；提取所述图像顶部区域的灰度值，并计算得到平均灰度值；基于所述平均灰度值判定所述电容是否倒下或甩出；若是，则对所述每一组图像中除第一张图像的其他图像进行区域划分，并对区域划分后的图像区域进行处理，得到所述多个处理结果；若否，则生成报警信息。

可选地，所述对所述每一组图像中除第一张图像的其他图像进行区域划分，并对区域划分后的图像区域进行处理，得到所述多个处理结果，包括：提取所述每一组图像每一组图像的预定图像区域；基于所述预定图像区域对所述电容进行边缘线检测，得到所述电容的边缘点的边缘坐标点；确定所述预定图像区域中边缘点的距离；将所述每一组图像中除第一张图像的其他图像区域与所述第一张图像进行做差处理，得到所述电容的尺寸数据；基于所述边缘点坐标以及所述电容的尺寸数据得到所述多个处理结果。

可选地，所述基于所述平均灰度值判定所述电容是否倒下或甩出，包括：将所述平均灰度值与预设灰度值进行比对，得到比对结果；若所述比对结果表示所述平均灰度值大于所述预设灰度值，则确定所述电容倒下或甩出；若所述比对结果表示所述平均灰度值不大于所述预设灰度值，则确定所述电容未倒下或甩出。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种电容外观的检测装置，包括：获取单元，用于获取电容的多张图像；分组单元，用于对所述多张图像进行分组，得到多组图像，其中，所述多组图像中的每一组图像均包括预定数量的图像；处理单元，用于对所述多组图像进行处理，得到多个处理结果；判定单元，用于根据所述多个处理结果判定所述电容是否为合格产品。

可选地，所述获取单元，包括：采集模块，用于响应于电容检测指令，触发图像采集设备启动，以采集所述电容的多张图像。