[发明专利]流场测试方法和装置、电子设备及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202010367322.5 | 申请日: | 2020-04-30 |
公开(公告)号: | CN111562081A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 楼英;唐瑒;周宏禹;吴燕雄;周翔辉 | 申请(专利权)人: | 成都英鑫光电科技有限公司 |
主分类号: | G01M9/06 | 分类号: | G01M9/06 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 徐彦圣 |
地址: | 610000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种流场测试方法,其特征在于,包括:
针对流场中的每个测量点,获取该测量点返回的光信号和位置信息;
对所述光信号进行预处理,并根据预设的计算公式对预处理后的光信号进行计算,得到该测量点的风速;
根据每个测量点的风速和位置信息得到流场图形。
2.如权利要求1所述的流场测试方法,其特征在于,每个测量点返回的为三个方向上的光信号,所述对所述光信号进行预处理,并根据预设的计算公式对预处理后的光信号进行计算,得到该测量点的风速的步骤,包括:
对测量点返回的三个方向上的光信号分别进行频谱分析处理和特征分析处理,得到三个方向上的径向风速;
根据预设的计算公式,对三个方向上的所述径向风速进行计算得到所述测量点的风速。
3.如权利要求2所述的流场测试方法,其特征在于,所述计算公式包括:
Vx=V1Cosθ+V2Cosθ;
Vy=V2Cosθ;
Vz=V1Sinθ+V2Sinθ+V3Sinθ;
其中,V1表示第一方向的径向风速,V2表示第二方向的径向风速,V3表示第三方向的径向风速,V表示所述测量点的风速大小,θ表示三个方向上的径向风速与水平方向的夹角,α表示所述测量点的风速方向。
4.如权利要求2所述的流场测试方法,其特征在于,所述对测量点返回的三个方向上的光信号分别进行频谱分析处理和特征分析处理,得到三个方向上的径向风速的步骤,包括:
针对每个方向上的所述光信号,分别根据频谱分布进行频谱分析处理,得到该方向上的所述光信号对应的输出帧;
对所述输出帧进行特征分析处理,得到所述输出帧对应的径向风速,作为该方向上的径向风速。
5.如权利要求4所述的流场测试方法,其特征在于,所述针对每个方向上的所述光信号,分别根据频谱分布进行频谱分析处理,得到该方向上的所述光信号对应的输出帧的步骤,包括:
针对每个方向上的所述光信号,分别进行全局分析处理,得到第一时域信号;
对该方向上的所述光信号中的低频部分进行低速分析处理,得到第二时域信号;
对该方向上的所述光信号中的高频信号进行高速分析处理,得到第三时域信号;
对所述第一时域信号、第二时域信号和第三时域信号进行同步处理,得到该方向上的所述光信号对应的输出帧。
6.如权利要求4所述的流场测试方法,其特征在于,所述对所述输出帧进行特征分析处理,得到所述输出帧对应的径向风速的步骤,包括:
根据所述输出帧的特征点计算频移量;
根据所述频移量和预设的多普勒公式进行计算得到所述输出帧对应的径向风速。
7.如权利要求6所述的流场测试方法,其特征在于,所述根据所述输出帧的特征点计算频移量的步骤,包括:
获取所述输出帧的所有特征点,并对所述所有特征点进行筛选处理,得到相关特征点;
根据所述相关特征点计算频移量。
8.一种流场测试装置,其特征在于,包括:
信号获取模块,用于针对流场中的每个测量点,获取该测量点返回的光信号和位置信息;
风速计算模块,用于对所述光信号进行预处理,并根据预设的计算公式对预处理后的光信号进行计算,得到该测量点的风速;
流场图形获取模块,用于根据每个测量点的风速和位置信息得到流场图形。
9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述处理器用于执行所述存储器中存储的可执行的计算机程序,以实现权利要求1-7任意一项所述的流场测试方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,该程序被执行时实现权利要求1-7任意一项所述流场测试方法的步骤。
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