[发明专利]一种显示用基板的检测方法

权利要求书

1.一种显示用基板的检测方法，所述显示用基板包括多个像素驱动电路，所述像素驱动电路包括多个晶体管和至少一个电容；其特征在于，所述显示用基板的检测方法包括：

向多个所述像素驱动电路中的每个像素驱动电路输入多个信号，以获得所述像素驱动电路中待检测元件的检测信号；所述检测信号大于所述待检测元件的额定工作电压，且小于所述待检测元件的击穿电压；其中，所述待检测元件为所述多个晶体管和至少一个电容中的任一个；

在所述像素驱动电路包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管的栅极与第一栅极驱动信号端电连接，所述第一晶体管的第一极与数据信号端电连接，所述第一晶体管的第二极与所述第二晶体管的栅极电连接；所述第二晶体管的第一极与电源电压信号端电连接，所述第二晶体管的第二极与发光器件的阳极电连接；

向多个所述像素驱动电路中的每个像素驱动电路输入多个信号，包括：

向所述像素驱动电路中的所述第一栅极驱动信号端输入第一信号，向所述数据信号端输入第二信号，以获得所述第一晶体管的检测信号；和/或，

向所述第一栅极驱动信号端输入第三信号，向所述数据信号端输入第四信号，向所述电源电压信号端输入第五信号，以获得第二晶体管的检测信号。

2.根据权利要求1所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，

在所述像素驱动电路还包括电容，所述电容的一端与所述第二晶体管的栅极电连接，另一端与所述电源电压信号端电连接的情况下：

向多个所述像素驱动电路中的每个像素驱动电路输入多个信号，还包括：

向所述第一栅极驱动信号端输入第六信号，向所述数据信号端输入第七信号，向所述电源电压信号端输入第八信号，以获得所述电容的检测信号。

3.根据权利要求1所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，在所述像素驱动电路还包括第三晶体管和电容，所述第三晶体管的栅极与第二栅极驱动信号端电连接，所述第三晶体管的第一极与感测信号端电连接，所述第三晶体管的第二极与所述发光器件的阳极电连接；所述电容的一端与所述第二晶体管的栅极电连接，另一端与所述发光器件的阳极电连接的情况下：

向多个所述像素驱动电路中的每个像素驱动电路输入多个信号，还包括：

向所述第二栅极驱动信号端输入第九信号，向所述感测信号端输入第十信号，以获得所述第三晶体管的检测信号；和/或，

向所述第一栅极驱动信号端输入第六信号，向所述数据信号端输入第七信号，向第二栅极驱动信号端输入第十一信号，向感测信号端输入第十二信号，以获得所述电容的检测信号。

4.根据权利要求2或3所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，在向所述像素驱动电路中的所述第一栅极驱动信号端输入第一信号和第三信号的情况下：所述第一信号和所述第三信号相同。

5.根据权利要求4所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，所述第一信号和所述第三信号为恒压信号。

6.根据权利要求2或3所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，在向所述第一栅极驱动信号端输入第三信号，向所述数据信号端输入第四信号，向所述电源电压信号端输入第五信号的情况下：

在同一时刻，所述第四信号和所述第五信号中的一个信号为高电平，另一个为低电平。

7.根据权利要求6所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，所述第四信号和所述第五信号为等幅反相信号。

8.根据权利要求1所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，所述多个晶体管中的任一个晶体管的检测信号等于所述晶体管的栅极层的电压与其有源层的电压之间的压差。

9.根据权利要求8所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，所述晶体管的栅极层的电压和所述有源层的电压中的一个电压为正电压，另一个电压为负电压。

10.根据权利要求1所述的显示用基板的检测方法，其特征在于，所述电容的检测信号等于其两个极板的电压之间的压差。