[发明专利]一种以非晶氧化硅薄膜为本征钝化层的异质结太阳电池在审
申请号: | 202010369109.8 | 申请日: | 2020-05-02 |
公开(公告)号: | CN111509058A | 公开(公告)日: | 2020-08-07 |
发明(设计)人: | 李正平;刘超;杨杰;任栋樑;陈昌明;徐小娜;周国平 | 申请(专利权)人: | 熵熠(上海)能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/072 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 徐俊 |
地址: | 201100 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氧化 薄膜 钝化 异质结 太阳电池 | ||
1.一种以非晶氧化硅薄膜为本征钝化层的异质结太阳电池,其特征在于,包括在n型单晶硅片(1)的正表面依次形成的非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜层、p型氢化非晶硅薄膜层(3)、透明导电氧化物薄膜层和金属栅线电极,在n型单晶硅片(1)的背表面依次形成的非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜层、n型氢化非晶硅薄膜层(7)、透明导电氧化物薄膜层和金属栅线电极。
2.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述n型单晶硅片(1)采用晶相为(100)的n型Cz单晶硅,其厚度为100~180μm,电阻率为0.5~3.0Ω·cm。
3.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述的非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜层是通过等离子增强化学气相沉积或热丝化学气相沉积制备在n单晶硅片(1)的正表面/背表面,其厚度为2~10nm。
4.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述的非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜的化学式表示为a-SiOx:H,非化学计量比x的变化范围是0~0.5。
5.如权利要求4所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述的非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜通过改变非化学计量比x,其光学带隙可在1.6~3.0eV的范围内调节。
6.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述的p型氢化非晶硅薄膜层(3)为硼掺杂的非晶硅薄膜层;所述的n型氢化非晶硅薄膜层(7)为磷掺杂的非晶硅薄膜层。
7.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述的透明导电氧化物薄膜层为掺锡氧化铟薄膜或掺钨氧化铟薄膜。
8.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述的金属栅线电极为Ag电极。
9.如权利要求1所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜层的制备方法为:n型单晶硅片(1)预处理后放入等离子增强化学气相沉积设备或热丝化学气相沉积设备中抽真空,真空度达到5×10-4Pa后,以H2和SiH4为反应气体、CO2为氧源,在n型单晶硅片(1)衬底温度150~300℃、沉积气压为0.2~300Pa条件下,在n型单晶硅片(1)的正表面、背表面各生长一层非化学计量氢化非晶氧化硅薄膜层。
10.如权利要求9所述的异质结太阳电池,其特征在于,所述CO2的体积占其与SiH4的体积之和的百分比在0~50%之间变化。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的